表面活性剂(PVA)浓度对电子束制备纳米铜的影响

在水溶液中,常温常压下使用聚乙烯醇(PVA)为表面活性剂,用电子束辐照方法可以成功制备纳米铜粉。利用紫外可见分光光度计(UV)和激光粒度衍射仪(LSPSDA)考察了表面活性剂浓度对纳米铜粒径分布和团聚的影响。在一定范围内随着PVA浓度的增大纳米铜的粒径减小到13nm。X射线衍射(XRD)和透射电子显微镜(TEM)结果表明PVA浓度为0.88g/100mL,pH值在5~9之间时,能得到纯的纳米铜,其粒径分布为15~40nm。     

表面活性剂(PVA)浓度对电子束辐照制备纳米铜锡合金的影响

本文研究了聚乙烯醇(PVA)水溶液的浓度对电子柬辐照制备纳米铜锡合金的影响.经X射线衍射(XRD)和透射电子显微镜(TEM)测试,产物为纯纳米铜锡合金.用紫外可见分光光度计(UV)和激光粒度衍射仪(LSPSDA)考察了表面活性剂浓度对纳米铜锡合金粒径分布影响.PVA浓度为0、8、16、24 mg/mL制备的纳米铜锡合金的平均粒径,分别为172.1、16.4、14.1、6.4 nm.     

人工地震采油技术的应用

地震采油技术源于自然界带给人们的启示，通过对振动机理的分析及矿场实践表明：人工地震可以提高原油采收率，此项技术在辽河油田兴隆台采油厂得到了广泛的应用，取得了显著的社会效益和经济效益。     

辐照纤维素材料结晶行为的研究

对电子束辐照处理后的滤纸、木屑和稻草三种纤维素材料的Ｘ衍射行为进行了较为系统的研究。结果可见，这三种植物纤维纱材料的相对结昌度都随辐照剂量的增加而减少，同时还发现它们的Ｘ衍射峰峰位都随照剂量增加小角方向位移，并呈线性关系，实验还发现木屑所含大量木质素并没有在电子束辐射照场中对纤维素晶区起保护作用     

铁棍山药黏液复合乳液保鲜鲜切马铃薯研究

为了降低鲜切马铃薯在贮藏过程中的酶促褐变程度、减缓营养流失,延长货架期,该文从铁棍山药中提取山药黏液,并与山梨醇以及VC复配,制备鲜切马铃薯保鲜乳液;通过色差、失重率、还原糖、抗氧化酶活性和抗氧化物质含量等指标的变化,探讨山药黏液复配乳液对鲜切马铃薯的保鲜效果.结果表明,1％山药黏液与0.5％ 的甘油、0.75％D-山...     

尼龙-66滤膜电子束预辐照接枝丙烯酸的研究

采用电子束预辐照接枝法,以水为溶剂,硫酸铜为阻聚剂,将丙烯酸接枝到尼龙-66滤膜上面。探讨电子束吸收剂量、丙烯酸单体浓度、接枝时间和反应温度对滤膜接枝率的影响。对不同接枝率的滤膜进行吸水性测试,并利用扫描电子显微镜和傅里叶红外光谱仪对接枝前后的滤膜进行表征。结果表明:丙烯酸成功接枝到尼龙-66滤膜表面,接枝后样品表面孔洞减少,表面粗糙度增加;接枝率随着吸收剂量、丙烯酸单体浓度、接枝时间和反应温度的增加而增大,而后渐渐趋于平缓;接枝后的滤膜吸水率有很大的提高。     

电子束蚀刻聚酰亚胺制备微孔分离膜的研究

以电子束蚀刻技术,结合微孔掩膜和溶液氧化腐蚀的方法,制备聚酰亚胺(Polyimide,PI)微孔分离膜.通过称重法,讨论了吸收剂量、腐蚀时间和腐蚀温度等因素对PI基膜蚀刻和腐蚀的影响,结果表明,随着吸收剂量、腐蚀温度和腐蚀时间的增加,PI基膜更容易被腐蚀;IR检测结果表明,辐照导致PI分子化学键断裂,分子量变小,是辐照PI腐蚀失重率增加的原因;试验对微孔铅和铁掩膜遮蔽的PI基膜进行电子辐照,再用浓硫酸和重铬酸钾混合溶液腐蚀辐照PI基膜,得到具有规则且垂直孔道的聚酰亚胺微孔分离膜.     

C60与苯同系物的电子束催化反应

研究了电子束辐照对Ｃ６０的苯同系物浓度的影响，发现电子束在常温常压的氮气中作用于固体Ｃ６０，其红外图谱与末辐照的Ｃ６０图谱一致，说明Ｃ６０的化学结彩没有发生发电子束辐照Ｃ６０的苯，甲苯和二甲苯溶液后，被辐照样品的颜色从紫色变成褐色，并有大量褐色固体沉淀产生；这种固体产物经红外光谱仪测定发现图谱中分别明显存在苯、甲苯、二甲苯以及Ｃ６０的各种基团的红外特征吸收峰，辐照的Ｃ６０苯和甲苯样品的清液经紫外光     

考虑输出量化的控制系统传感器故障检测

针对一类考虑输出均匀量化的控制系统,研究了传感器故障下的故障检测问题。首先,从优化的角度出发,考虑残差对未知干扰的鲁棒性和对传感器故障灵敏性之间的折中问题,给出了H∞/H∞性能指标,并通过求解代数黎卡提方程得出最优残差生成器的增益矩阵;然后,利用量化误差的随机过程特性,设计了残差评价器,同时给出了所设计阈值误报率的上确界;最后,数值仿真结果显示,系统能够快速准确地检测出传感器故障,验证了所提方法的有效性。     

电子束辐照制备纳米镍

在水溶液中,常温常压下不加入任何催化剂,用电子束加速器辐照作为一种新的方法可成功制备纳米镍。利用X射线衍射(XRD)、透射电子显微镜(TEM)、激光衍射粒度分布仪(LSPSDA)、紫外可见光分光光度计(UV)、样品振荡磁力计(VSM)和差热分析仪(DSC)来分别表征材料的结构、形貌、大小、粒径分布、光学特征、磁学性能以及材料的熔点。TEM图像和LSPSDA分布图证明颗粒大小为39nm,这与XRD实验通过Scherer理论公式计算的结果相一致。