飞速发展的Flash Memory

该文以近年来在存储器领域发展迅速的Ｆｌａｓｈ Ｍｅｍｏｒｙ作了比较全面的介绍。文章从Ｆｌａｓｈ Ｍｅｍｏｒｙ的工作原理入手，对其读，写，降低功耗等工作方式进行了较为详细的分析，并就其主要的应用领域作了介绍。     

专用集成电路知识介绍(三)——MOS反相器

1.概述 反相器是MOS电路的基本形式。除逻辑功能外,它体现出MOS门电路的所有基本特点。 图2—14示出了一电阻负载的NMOS反相器及其伏—安特性、负载线和电压传输特性。设计这样一个反相器,要考虑电平和噪声容限,此外还要考虑下面的几项要求。 由于集成电路的成本与芯片面积成正比,因而设计者总是试图努力减少每个电路单元所占的面积。MOS晶体管的最小尺寸由特定工艺的精度限制。     

专用集成电路知识介绍（九）：ASIC的测试

在ASIC的工艺制作过程中,会因各种缺陷而造成器件失效。例如栅氧化层的针孔;多晶硅、扩散区或金属连线的短路或开路;接触孔缺陷、沾污以及芯片的晶体缺陷等。此外,还有设计失误,如门的输出驱动能力不够等。显然,对于这些失效器件,必须通过芯片测试和成品测试检测出来。 过去在测试规模不太大的IC时,测试图案一般由人工生成。但随着电路复杂程度的增加,完全由人工生成测试图案实际上已不可能,因此逐渐被自动生成方法所代替。即便如此,由于其对测试设备的高标准要求以及开发测试程序所需费用的大量增加等因素,仅靠自     

专用集成电路知识介绍（续六）

(2) 开关特性测试的测试图案 现以图4—17为例,说明用于开关特性测试的测试图案设计方法。 ①在被测输入和输出波形的沿上标以“o”。 ②在预定位置指定被测引腿间延迟时间,例如表中引腿1至引腿21的延迟时间为15ns,引腿1至引腿51的延迟时间为23ns。 ③开关测试点的数目有一定限制。 ④在进行开关测试的时候,仅仅开关测试的输入信号可以变化。 (3)时序图的编码方法     

专用集成电路知识介绍(续五)

四、PAL的测试 1.PALASM的测试功能 前面已经提到,PALASM除了产生PAL电路熔断图案以外,还具有测试功能,包括: ·汇集PAL电路设计说明并报告错误信息。 ·模拟功能表。 ·测试每个乘积项固定为0和固定为1的故障。     

微处理器的几个时间特性

在选择微处理器组成系统时,除了介其指令系统,寻址方式、中断结构等技术特性外,本文所介绍的各微处理器在对存贮器存取时间要求,中断响应时间,总线响应时间等技术指标上的差别,也是考虑系统结构设计的重要因素。一、对存贮器存取时间的要求及等待态的插人由微处理器的时序可以看出,从送出地址到读回数据有一定的时间要求。因此,在一个微型机系统中,     

微处理器的中断结构及其设计

本文从微型机系统的要求出发,论述了微处理器内部的中断结构。主要内容包括其日趋完善的发展趋势;中断处理的一般方式、中断的允许与禁止、现场保护及其硬件支援;中断优先权及其排队方法;中断请求源的鉴别、外部插入和内部产生的向量中断;陷阱及软件中断。文中说明了上述重要的中断概念,从软件、硬件相结合的角度介绍了不同方案的实现方法,并对其特点及性能进行了比较。     

CMOS标准单元电路技术

微电子技术的发展使在一个芯片上所能集成的器件数越来越多,今天已经能把几十万个器件做在一个芯片上。过去大量的电路间连线都变成为芯片内部联线。从而使中、小规模产品系列的通用性发展成为LSI产品系列的专用性。系统的大量设计工作转化为LSI的设计。因而简化LSI设计以缩短开发周期和保证设计一次成功是LSI设计迫切需要解决的问题。     

PC服务器的应用扩展与市场增长

ＰＣ服务器的应用扩展与市场增长清华大学计算机科学与技术系教授朱家维在传统的以太网络系统中已经引用了网络服务器的名字，如今服务器的名字已被大家所熟知，但在大量文章、报刊上出现的服务器名字前所加定语各种各样，如文件服务器、打印服务器、通讯服务器．数据库服...