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白云飞  谢凡  许乐 《电源技术》2022,46(1):43-45
介绍了极片涂布闭环控制中需要微小区域测量的实际需求,阐述了微斑X射线面密度测量仪的测量原理、微射线束的实现方法,以及在微斑条件下提高测量系统性能的技术手段.在闭环控制系统中通过加装湿膜测量仪,测量仪与闭环器反馈联动等措施,极片的纵向面密度极差降低至2 mg,横向10 mm区域面密度极差降低至2.5 mg,涂布质量的一致...  相似文献   
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