具有两种工作方式的模数转换器AD7896

介绍了新型Ａ／Ｄ转换器ＡＤ７８９６的两种工作方式、串行接口及与８０５１单片机的接口。它有以下优点：单电源工作、电源电压范围宽、１２位分辨率、串行接口、８脚封装，非常适合空间要求严格、电池工作、便携式、低功耗、高速采样等方面的应用     

一种生成p元统一序列的快速算法

p元统一序列是近期提出的一种具有理想自相关性能的多元序列,但是原有的生成方法比较复杂,不好实现。这里提出了一种快速生成p元统一序列的算法,该算法借助m序列的和序列作基础序列,和相应内部序列的移位序列可以快速生成任何长度的p元统一序列,比以往的生成方法简单易行且易于理解。     

100吨转炉设备安装

针对100吨转炉设备安装过程中设备重量超载，超高，无法直接采用行车安装的情况，采用了设备分体移位吊装，现场整体组合焊接的施工工艺方案，设计专用安装工装，确保了设备安装精度并一次安装到位。     

基于移位原理的顺序控制器研究

本文根据PLC顺序控制程序的设计思路,阐述了用常用集成数码移位寄存器、电力电子开关电路和少量外围电子元件构成移位控制器的原理,根据此设计思路制作的移位控制器经过在实验室环境下运行,证明了设计方案的可行性。     

炼铁厂4#取料机移位改造

炼铁厂中和场工段二次料场共有3个堆场，分别叫A、B、C堆场，其中A堆场长450米、B堆场长400米，C堆场长320米，共有4台取料机，其中C堆场2台，一起供应二烧工段280m^2烧结机、三烧工段130m^2、180m^2。     

基于SoC的嵌入式DRAM存储器内建自测试设计

内建自测试(Built-in Self Test,BIST)是测试片上系统(System on- Chip,SoC)中嵌入式存储器的重要技术;但是,利用BIST技术采用多种算法对嵌入式存储器进行测试仍面临诸多挑战;对此,提出了一种基于SoC的可以带有多种测试算法的嵌入式DRAM存储器BIST设计,所设计的测试电路可以复用状态机的状态,利用循环移位寄存器(Cyclic Shift Register,CSR)产生操作命令,利用地址产生电路产生所需地址;通过对3种BIST电路支持的算法,全速测试,面积开销3个方面的比较,表明提出的嵌入式DRAM存储器BIST设计在测试时间,测试故障覆盖率和测试面积开销等各方面都取得了较好的性能.     

SPI总线扩展PLC输出点数的设计与实现

针对PLC主模块可用输出点数少的缺点,提出了采用SPI总线和移位寄存器HC595相结合扩展PLC输出点数,并设计了输出扩展电路;根据SPI总线及HC595的时序特点,确定了SPI的时钟模式,解决了时序的配合问题,并确定了输出点数的逻辑顺序;UDTY端接一下拉电阻,保证其处于高电平,SPI2CLK信号取反后输入到HC595,保证其采样到稳定的SPI输出数据,滤波电容,提高了电路抗干扰性能;编程实现对扩展输出点数的控制。实际应用表明,该设计方案经济、可靠。