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2.
空口(OTA)测试已广泛应用在无线通信领域,提高测试结果的准确性是OTA测试当前急需解决的问题.文章从影响OTA测试结果准确性的因素链路增益平坦度入手,使用衰减器对测试链路进行增益削剪,分析测试了不同链路增益平坦度对被测件的EVM(误差矢量幅度)、BER(误码率)、TIS(总全向灵敏度)三项性能指标的测试误差与测试不确定度的影响.测试结果表明,增大链路增益平坦度会导致EVM、BER参数发生偏移,降低测试系统的通信质量;当系统的链路增益平坦度为1.82 dB时,测试误差与不确定度接近CTIA测试标准中规定值.最后,提出一种使用增益均衡器降低链路增益平坦度的方法,在链路增益平坦度为3.25 dB的测试系统中可将其控制在0.5dB以内. 相似文献
3.
《Planning》2015,(1)
在公司金融理论领域,公司价值的影响因素得到了广泛的关注,其中经营和盈利状况是关键性指标。由于上市公司管理层存在自身激励进行盈余管理,应计会计使得公司所面临的经营和盈利波动被掩盖,市场往往通过识别现金流的波动状况给予公司相应的估值。文章以2003—2012年沪深上市公司可得财务数据为样本,通过构建混合截面数据并进行多元回归分析对现金流波动性与企业价值之间的关系进行了探索,结果表明现金流波动率与企业价值显著负相关,现金流波动率每提高1%,公司价值对应降低0.07%。因此,在信息披露制度日益完善的今天,上市公司管理层应当通过风险管理手段降低现金流波动率,从而提高公司的市场价值。 相似文献
4.
5.
6.
对射频电缆幅相稳定性进行了介绍,阐述了射频测试电缆相位和幅度变化的因素,并详细分析了射频电缆相位性能以及幅度性能的不同测试方法,最后通过实测数据的展示,总结说明了在日常测试中该如何正确使用测试电缆。 相似文献
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8.
9.
《固体电子学研究与进展》2015,(6)
针对纳米级工艺多指栅MOS晶体管的不同版图结构及其阈值波动的相关特性进行分析和研究。通过将基于Fujitsu 90nm工艺的三种不同版图结构实现的N型多指栅MOSFET器件阈值电压VTH作为工艺波动的研究对象,运用多元非线性回归算法对测试芯片进行系统工艺波动与随机工艺波动的提取和分析,并对与尺寸、版图结构相关的随机工艺波动特性进行了评估。测试结果表明三种版图结构中有源区共有结构具有最佳的电流驱动特性,有源区隔离结构抑制系统波动能力最优,折叠栅结构具有同尺寸器件较低的阈值电压并可以最有效地抑制随机工艺波动。 相似文献
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