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1.
《石油化工》2015,44(4):506
采用便携式微量水分析仪和库仑法微量水分析仪测定了乙烯、丙烯试样中的微量水含量,对试样的传输系统、进样量的控制、液体试样的气化和水标准气体的制备方法进行了改进,优化了测试条件。以低吸附惰性管线和小死体积单进单出的不锈钢减压器为试样传输系统,缩短了测试时间。采用液态烃闪蒸气化取样进样器气化液体试样并准确控制试样的进样量,可避免液体试样渐次气化对水含量测定结果的影响及对采样钢瓶大小的限制。采用渗透管发生器制备水标准气体,可验证分析结果的准确度。采用库仑法微量水分析仪测定水含量时,试样流量选择600 m L/min较适宜,开封保存15 d之内的卡尔·费休试剂对测定结果无影响。采用便携式微量水分析仪测定水含量时,选择试样流量在400~800 m L/min之间较适宜。两种仪器的测量结果相近,稳定性好,准确度高,回收率在102%~107%之间,相对偏差小于10%。 相似文献
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概述了氢的主要工业生产方法和实际应用,详细介绍了氯碱氢三级脱水工艺过程,并运用在线分析手段,准确显示了干燥过程中的氯碱氢水分含量变化规律。 相似文献
3.
本文对运营商信息安全集中管控架构演进和信息安全管控策略面临的问题进行了深入分析,提出了信息安全集中管控架构的演进方向建议及对信息安全监控策略工作优化的若干意见。 相似文献
4.
5.
6.
P. G. Muzykov Y. I. Khlebnikov S. V. Regula Y. Gao T. S. Sudarshan 《Journal of Electronic Materials》2003,32(6):505-510
To establish fast, nondestructive, and inexpensive methods for resistivity measurements of SiC wafers, different resistivity-measurement
techniques were tested for characterization of semi-insulating SiC wafers, namely, the four-point probe method with removable
graphite contacts, the van der Pauw method with annealed metal and diffused contacts, the current-voltage (I-V) technique,
and the contactless resistivity-measurement method. Comparison of different techniques is presented. The resistivity values
of the semi-insulating SiC wafer measured using different techniques agree fairly well. As a result, application of removable
graphite contacts is proposed for fast and nondestructive resistivity measurement of SiC wafers using the four-point probe
method. High-temperature van der Pauw and room-temperature Hall characterization for the tested semi-insulating SiC wafer
was also obtained and reported in this work. 相似文献
7.
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10.