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1.
2.
无铬钝化技术的发展和ZECCOAT无铬钝化工艺 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了无铬钝化技术的发展概况,无铬钝化分为无机物钝化和有机物钝化两个体系,大部分工艺还处于实验室研究阶段。介绍了ZECCOAT无铬钝化工艺。该工艺采用了高科技纳米技术,钝化溶液无毒,钝化膜薄,具有自修复性,耐腐蚀性高。中性盐雾试验出现白锈时间,直接采用ZECCOAT钝化,碱性镀锌为96 h-168 h,酸性镀锌为96 h-120 h;采用三价铬钝化加ZECCOAT钝化,碱性镀锌为648 h-936 h,酸性镀锌为192 h-504 h。ZECCOAT钝化膜性能和钝化成本与三价铬钝化加封闭工艺相当。 相似文献
3.
4.
Through-silicon via (TSV) is a key enabling technology for the emerging 3-dimension (3D) integrated circuits
(ICs). However, the crosstalk between the neighboring TSVs is one of the important sources of the soft faults. To
suppress the crosstalk, the Fibonacci-numeral-system-based crosstalk avoidance code ( FNS-CAC) is an effective
scheme. Meanwhile, the self-repair schemes are often used to deal with the hard faults, but the repaired results
may change the mapping between signals to TSVs, thus may reduce the crosstalk suppression ability of FNS-CAC.
A TSV self-repair technique with an improved FNS-CAC codec is proposed in this work. The codec is designed
based on the improved Fibonacci numeral system (FNS) adders, which are adaptive to the health states of TSVs.
The proposed self-repair technique is able to suppress the crosstalk and repair the faulty TSVs simultaneously. The
simulation and analysis results show that the proposed scheme keeps the crosstalk suppression ability of the original
FNS-CAC, and it has higher reparability than the local self-repair schemes, such as the signal-switching-based and
the signal-shifting-based counterparts. 相似文献
5.
On-Line Techniques for Error Detection and Correction in Processor Registers with Cross-Parity Check
This paper proposes the Cross-Parity check as a method for an on-line detection of multiple bit-errors in registers or register files of microprocessors. Transient or soft errors caused by radiation as single event upsets (SEUs) or electromagnetic coupling are in the focus of this work. Especially for register files or register groups, an easy implementable error correction method is proposed, which can be implemented by software routines or additional hardware. The method is based on the logical interpretation of Cross-Parity vectors. 相似文献
6.
7.
8.
为探索静电放电对可编程逻辑器件的静电损伤(ESD)效应及其防护方法,选用人体模型,并利用ESS-606AESD模拟器对CycloneⅡFPGA芯片EP2C5Q208进行了ESD注入损伤效应试验。在此基础上,以演化硬件(EHW)技术为核心构建了一个具有自修复特性的强容错电子系统,并对其进行了故障注入试验。结果表明:ESD对FPGA不造成芯片损毁,只对放电管脚及其相关逻辑单元造成损伤,未放电管脚及芯片内部绝大部分逻辑单元功能完好。同时发现,系统演化修复能力与系统故障状况间具有较为明显的规律:(1)随着系统故障量的增大,影响系统演化修复能力的主要因素从演化算法的效率逐步转变为演化修复过程中的故障"避让"概率;(2)系统的演化修复能力与故障数量符合指数衰减规律。 相似文献
9.
智能材料结构自修复的策略研究 总被引:1,自引:0,他引:1
并非结构的任何微小损伤都会加以维修,即结构损伤修复的实时性要求要弱于诊断的实时性。对智能材料与结构在实时获得结构诊断信息条件下的自修复策略问题进行了研究,应用马尔可夫过程描述智能材料结构的劣化过程,以单位时间费用最低为目标的自修复策略,给出了计算修复阀值的具体算法并用具体的实例说明了计算过程。 相似文献
10.