专配LCD——奋达IF500C“薄客”音箱

奋达公司近期针对LCD显示器设计了一款“超薄”的多媒体音箱——IF500C．名为“薄客”。它的低音炮外形设计很特别，主体为淡雅的乳白色．箱体仿钢琴漆PVC贴皮．面板使用了弧形亚克力板装饰．有利于低频的释放。副箱横向倒置呈游艇状．可有效减少驻波反射。IF500C的音量和低频增益旋钮都设计在低音炮面板上，可让用户较容易控制音量大小。奋达IF500C的扬声器采用了防磁设计，可以随意摆放．不会影响其他设备的正常工作。     

利用反射纵波评价裂缝倾角的模拟实验研究

声波全波列测井中的反射纵波可以用来评价高角度裂缝和对井周附近地质结构进行成像。目前的研究主要侧重于直接从波形资料处理出发计算裂缝的位置和倾角 ,其可靠性和准确性无从评价和校验。文中采用模拟实验的方法记录了倾角为 6 0°～80°范围内的 8种倾角裂缝的反射脉冲纵波波形 ,自行推导了反演裂缝倾角的公式 ,结合波场分离技术对实验测量波形数据进行了处理 ,计算出的裂缝倾角与实际值具有良好的一致性。本文结果表明 ,利用至少 2个深度点的纵波反射波波形资料就可以准确地反演裂缝的倾角     

透反液晶显示器

兼有透射型和反射型液晶显示优点的透反液晶显示可工作于透射和反射两种显示模式，它将广泛应用于手机、PDA等通讯领域。透反液晶显示可分为单盒厚和双盒厚两大类。又可分为扭曲型和非扭曲型两种。为了研制出高性能透反液晶显示器，需解决透反两个显示区的响应时间、光效率、色饱和度的差异以及视角等问题。文中介绍了Sharp公司开发的2种基本的透反液晶显示。以及3种新近开发的高性能透反液晶显示。随着应用市场的扩大和技术的进步，透反液晶显示将会进一步得到发展。     

Pt(111)小面微结构的反射电子显微分析方法

介绍了反射电子显微术的成像原理和实现这种技术的方法,报道了用JEM-200CX电镜对Pt(111)小面微结构观察的结果。利用反射电子束成像可以揭示平坦小面的微观结构,如单原子高度的台阶,位错露头和滑移迹线等;利用背散射电子成像,可以揭示Pt(111)小面微结构的转变。实验结果表明,反射电子显微术是分析表面微结构的有效方法。     

加利福尼亚州旧金山海湾南部高分辨率地震反射剖面上的声波横向变化被错误地解释为全新世海湾软泥的断层错断

1992年和1993年我们在旧金山湾南部进行了高分辨率地震反射剖面采集,以调查沿假定的横穿海湾的基岩断层带上在全新世是否发生过断裂作用。最初的模拟记录在沿陡峭垂直边界上出现有反射束的视断错。起初将这些记录解释为在全新世海湾软泥上部10米(0.013秒双程旅行时)内沿密集陡峭垂直边界的复合断层组的显示。后来在1994年采用震源功率较高的不同的地震反射仪器又进行了测量,这种仪器生成的地震记录穿透深度较大(最大达20米,相当于0.026秒双程旅行时),其结果证明原来被解释为因断层作用而形成错断的反射波实际上是来自横向连续的反射层。最初解释中的这种陷井是由于反射同相轴振幅强度横向变化,同时使用的仪器功率较低而震源信号过长(大于15毫秒)引起的。当这些因素结合在一起时使得反射束沿陡峭垂直边界出现视断错。实际上如果使用第二种仪器,这些垂直边界出现在横向连续的反射同相轴的反射振幅突然降低的那些地方。反射振幅的这种明显的横向变化可以归因于在局部地段上存在生物(?)气体。     

集成电路的封装效应和它的建模

前半部分综述高速集成电路的封装效应和它的物理模型，并指出怎样利用时域反射法来测量有关它的参数，如电感、电容、耦合电感和耦合电容值等。后半部分笔者用地质学中使用的分层结构Ｚ－Ｐｒｏｆｉｌｅ算法，使得建模精度有很大提高。由于所用方法仪器简单、测量数据准确。因此是一个很好的科学研究工具，在生产实践中也有实用和经济价值。     

MMDS在海岛有线电视联网中的应用

本文介绍了在海岛地区特殊环境下采用ＭＭＤＳ方式进行有线电视联网过程中，如何解决海面反射引起的信号衰落和电平变化，以及怎样提高ＭＭＤＳ系统技术指标使之作为干线系统来使用等问题。     

同时具备单模和多模测试功能的小型光时域反射计

Ｔｅｋｔｒｏｎｉｘ公司的ＴｅｋＲａｎｇｅｒＴＦＳ３０３１小型ＯＴＤＲ（光时域反射计）是取代其前身ＴＦＳ３的第二代产品。它的主要特点是配备了“Ｉｎ－ｔｅｌｌｉＴｒａｃｅ（智能跟踪）”技术。同时；ＴＦＳ３０３１也是世界上第一台同时配备单模和多模测试功能的小型ＯＴＤＲ。其独特双接口设计使用户可作单模及多模光纤测试而不需要更换插件。用户可在ＴＦＳ３０３１上配备４种不同波长，包括单模１３１０和１５９０ｕｍ，多模８５０和１３００ｎｍ。ＴＦＳ３０３１具有优异的光学性能，在进行单模测试时，采用不同的选件，１５５…     

非接触式半导体少子寿命测试方法——微波反射法

介绍了一种非接触式用于测量少子寿命的微波反射法，并与通常的光电导衰退法进行了比较。