反铁磁耦合软磁/硬磁双层膜体系的交换弹性反磁化特性

基于微磁学理论研究了软磁/硬磁反铁磁交换耦合双层结构体系的反磁化特性,利用一维原子链模型模拟了其反磁化过程。研究表明:当考虑了软磁层的磁晶各向异性能后,随着软磁层厚度的增大,交换弹性反磁化过程从可逆过程转变为不可逆过程。存在一个临界的软磁层厚度tc,当软磁层厚度tstc时,交换弹性反磁化过程为不可逆过程。形核场Hb随软磁层厚度的变化仅当体系的反磁化过程为可逆的交换弹性反磁化过程时才满足经验公式Hb=Hb0/tsn。     

SrFe_(12)O_(19)/Co纳米复合双层膜的微磁学模拟

将纳米尺寸的硬磁材料和软磁材料组成纳米复合材料是提高永磁材料磁性能和降低生产成本的重要途径。采用微磁学模拟软件OOMMF研究了软磁相厚度对SrFe_(12)O_(19)/Co纳米复合双层膜体系磁性能的影响。结果显示,固定硬磁相厚度10 nm,随着软磁相厚度(Ls)的增加,最大磁能积先增大后减小,并在Ls=13 nm时取得峰值,达到234.55 kJ/m~3,远远超过目前单相高性能SrFe_(12)O_(19)的最大磁能积40 kJ/m~3。随着软磁相厚度的增加,体系由完全耦合的单相磁反转行为转变为软磁相部分优先成核的两相反转行为,并表现出显著的剩磁增强效应,矫顽力逐渐降低。     

SmCo/Fe系统膜厚对矫顽力与过渡区噪声影响的微磁学模拟

SmCo/Fe双层膜具有很好的各向异性,因此能够用于高密度垂直磁记录中.采用微磁学方法,详细讨论了SmCo/Fe双层膜系统中膜层厚度对于矫顽力和记录位间的过渡区噪声的影响.模拟结果表明,硬磁层和软磁层厚度对于矫顽力和过渡区噪声都具有一定的影响.为了获得大的系统矫顽力和小的过渡区噪声,有必要提高SmCo层和Fe层的厚度比,同时也要将系统中膜层厚度控制在较小的值.     

法兰克福茶屋

为了比"负建筑"更进一步设计者想到了"呼吸建筑"。负建筑与环境的关系是被动的,但"呼吸建筑"则能与环境进行互动交流。如果我们屏住呼吸而产生局促感,可能就会感觉建筑变小了。相反,如果我们深呼吸就会有空阔之感,于是就可能感觉建筑变大了,这样就产生了建筑的新动态风格。技术上,使用一种名为Tenara的新膜材料创建出了一个内含空间的双层膜结构。两层膜由聚酯线相连,膜的连接处和线放在600mm的树脂里,使其在膜上只是呈现点状。     

CoO膜厚对磁控溅射Co/CoO薄膜结构和磁性能的影响

为了探究FM/AFM双层膜中的交换偏置现象,利用磁控溅射法制备Co/Co O薄膜,通过改变沉积时间获得了不同Co O层厚度的Co/Co O双层膜系。通过X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、交变梯度磁强计(AGM)、超导量子干涉仪(SQUID)分别对样品的物相结构、表面形貌及磁性能进行分析和表征。结果表明,AFM层厚度对表面形貌有一定的影响,但表面成分不随AFM层厚度的变化而变化。所有样品的XRD谱均出现Co O(002)衍射峰,说明薄膜为晶态。不同厚度的Co/Co O双层膜样品表现出不同的矫顽力和偏置场,低温下样品的磁滞回线表现出明显的交换偏置效应,并且磁偏移量随膜层厚度增加呈现逐渐增大的趋势。当Co O厚度为62.5nm时,偏置场最大可达到420k A/m。     

多孔硅支撑磷脂双层膜的制备与表征

制备了一种以多孔硅为基底的新型支撑磷脂双层膜,多孔硅具有良好的光反射干涉性能,在多孔硅表面构筑磷脂双分子层膜有望形成一类新型的生物传感器.通过电化学刻蚀法制备了孔径为35～45 nm,孔道深度约为15μm的多孔硅,并用电子显微镜观测了其孔道结构,经原子力显微镜检测,其表面均方根粗糙度(RMSR)仅为0.64nm.用挤出...     

多孔阳极氧化铝膜EIS阻抗谱研究

为进一步研究多孔氧化铝膜的结构和性能,采用电化学综合分析仪测量并分析不同工艺条件下所制备的阳极氧化铝膜的电化学交流阻抗EIS图谱,建立了不同工艺条件下制备的阳极氧化铝膜的等效电路模型.结果表明:在草酸、磷酸电解液中形成的阳极氧化铝膜是多孔双层膜.在硫酸电解液中形成的直流阳极氧化铝膜的等效电路中无多孔层信息.采用直流、交流和脉冲不同电源方式,在不同电解液中制备的氧化铝膜的EIS阻抗谱各不相同,所模拟的等效电路也有所不同.     

盐桥支持的类脂双层膜研制

两侧是电解质溶液的类脂双层膜(BI,Ms)有许多生物膜的性质,修饰的类脂双层膜为制作高选择性、高灵敏度的生物传感器开辟了广阔的前景.但是由于通常的类脂双层     

温度对硅-蓝宝石压力传感器影响研究

针对硅-蓝宝石压力传感器在高温环境下测量精度较差的问题,以双层敏感膜片结构为基础,研究了温度对传感器的影响;通过对温度场及热应力的理论分析,证明了材料热膨胀系数不一致所产生的额外热应力,将引起测量误差;相应的ANSYS有限元仿真及实验也表明,温度效应对压力传感器的测试精度会产生较大的影响,且压力传感器的输出与温度值之间存在一定的规律。     

双层膜垂直磁记录介质的噪声

通过频谱分析和MFM观察,研究了双层膜垂直磁记录介质的噪声源。以腊介质噪声分为起因于垂直磁化层和软磁性衬底层的两种噪声。一般认为,前者显示准白型固有噪声频谱,与单层薄膜介质相同的位间反磁畴为噪声源;后者是与随记录密度增加的纵向记录介质一样的过滤性噪声,但固有噪声频谱包含超低频成份。要实现双层膜介质的低噪声比,除减少垂直磁化层引起的噪声外,还必须降低软磁性衬底层引起的噪声。通过改变制作软磁性衬底层的条件,可降低衬底层引起的噪声。