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<正>3月9日-11日即将于广州琶洲举办的2015中国国际标签印刷技术展览会上,北京北大方正电子有限公司将携最新研制的方正桀鹰K300S高速可变数据喷印系统亮相,向业界展示领先的可变数据喷印整体解决方案。方正桀鹰K300S高速可变数据喷印系统将继承方正桀鹰喷印系统一贯的稳定性,不仅具备较高的印 相似文献
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陆挺 《核电子学与探测技术》1989,9(2):102-107
近年来正电子湮没技术发展很快。它已经广泛地应用于各种领域中,在某些领域如金属及合金的研究中几乎成为一种常规的手段。 正电子湮没实验技术有三种主要的方法即寿命测量、能量的多普勒展宽测量、角关联测量。其中的寿命测量从概念上讲是比较直接的,但是从仪器设备和它的合理使用上讲,寿命测量是三个正电子方法中最为复杂的。 对于正电子寿命测量所使用的正电子寿命谱仪来说,谱仪的分辨率是最为重要的指 相似文献
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用正电子湮没多普勒展宽能谱测量和分析了若干急冷淬火制备的薄带,表明软磁Fe基纳米晶合金中的缺陷(自由体积)远多(大)于其晶化前的非晶态;能够晶化成纳米晶的Fe基非晶制备态材料中的缺陷也多(大)于类似成分但又不能晶化成纳米晶的非晶态材料中的缺陷;Fe73.0Cu1.0Nb1.5Mo2.0Si13.5b9.0合金的急冷淬火制备态在热处理过程中,低温退火时缺陷减少,高于200℃的退火导致缺陷增加,纳米晶化后的进一步退火缺陷基本不增加;Fe73.0Cu1.0Nb1.5Mo2.0Si13.5B9.0合金纳米晶化后,在所选定的测量条件下没有发现正电子湮滑参数时间,温度的变化,说明该材料缺陷结构相当稳定。 相似文献
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新型超微晶软磁合金FePCCuMoSi微观结构缺陷的正电子湮没研究 总被引:1,自引:0,他引:1
用正电子湮没方法研究了新型超微晶软磁合金的微观结构缺陷,样品选用的是在不同温度下退火的Fe81P12C3Cu1Mo0.5Si2.5合金,结果表明,合金的微观结构构陷大小,密度随退火温度有规律地变化,这种现象可能与非晶的晶化过程有关。 相似文献
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介绍了为光敏丝室探测器PET而设计的触发判选处理器(TRIG)的结构和原理,该处理器具有触发判选,计数率损失测量,随机符合事例率测量,探测器分区计数统计以及系统定标等多项功能,由于应用了EPLD技术和流水线作业等技术,实现了TRIG系统的高集成度和高性能 。 相似文献
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用正电子湮没技术研究了七种铁基非晶态合金,结果表明铝含量高的合金的正电子湮没参数大于铝含量低的合金,意味着铝的存在会造成铁基非晶态合金微观结构的不均匀性,很可能是较多的类空位缺陷出现。 相似文献