IEEE 1149.6可检测端口与故障判定

介绍了1149．6标准涉及的直流耦合、交流耦合、差分信号等可检测信号的类别及各种耦合连接终端,并给出了．故障测试参考表以进行故障的判定;差分信号与单端信号相比大大提高了信号的传输速度和抗噪能力,因此对差分交流耦合电路的检测十分关键;而IEEE1149．6边界扫描标准的重点。就在于可以对系统内部及集成电路内部交流耦合差分电路进行制造工艺缺陷的测试,尤其是可以对电容耦合及不同网络相耦合的通路进行故障检测;最后通过表格给出了交流耦合差分电路故障的多种表现形式及判定方法。     

从边界扫描技术协议讨论其发展与应用

边界扫描测试技术作为当前电子测试技术的热点,其应用与发展是令人瞩目的。本文通过对边界扫描技术一系列协议的简单介绍和剖析,讨论了边界扫描技术各个阶段的应用与发展情况,并对边界扫描技术未来的发展给出了一些预测。     

适用于高速数字网络的边界扫描标准

对适用于高速数字网络的边界扫描标准(IEEE Std 1149．6-2003标准)进行了比较全面的介绍,内容包括：该标准的产生背景以及要解决的主要问题,该标准中使用什么关键技术来解决直流通路表现出的漂移问题和该标准使用的故障模型,新增加的指令EXTEST-PULSE和EXTEST-TRAIN以及它们的基本工作方式,引脚的施行规范以及BSDL文档新的写作要求。基于现代最新科学技术水平,对边界扫描测试的发展方向提出了一些新的看法。     

一种在高速I/O接口嵌入边界扫描电路的方法

描述了一种对原电路具有最低影响的,将边界扫描单元嵌入到高速I／O接口电路的方法。在该方法中,我们对传输端利用1149．1标准。将边界扫描驱动寄存器插入到低速并行端口。而在接受端则利用IEEE 1149．6标准将边界扫描接收寄存器插人到高速串行端口。在并行端插人边界扫描驱动单元可以减少数据传输的延迟时间,降低对原电路正常工作的影响。在接受串行端插入扫描接收单元可以对交流耦合高速I／O口进行有效的测试。最后通过芯片测试举例证实了使用该方法确实能够对高速I／O口进行工艺缺陷的测试。同时又不影响原电路的正常工作。     

边界扫描测试协议剖析--从1149.1到1149.6

本文对边界扫描协议IEEE std 1149．1-1990到IEEE std 1149．6-2003的多个协议进行了介绍和剖析，着重讨论了各个协议能够解决的问题以及解决问题的方法，各个协议的体系结构和指令特色，总结了边界扫描技术的最新进展，并对以后边界扫描的发展方向给出了预测。     

高级数字网络的边界扫描测试

交流耦合、差分信号应用于高速数字互连网络,对传统上基于直流的故障检测边界扫描技术提出了挑战.2003年3月,IEEE标准委员会新推出了1149.6标准,它提供了一种基于频率的设计方案,能够有效解决上述挑战,并兼容原有的IEEE1149.1标准.本文将讨论此方案的设计思想和模拟测试实现.     

适用于高级数字网络测试的边界扫描芯片特性研究

为解决高级数字网络交流耦合/差分的故障检测问题,对高级数字网络测试边界扫描标准(IEEE1149.6)进行了研究;针对符合IEEE1149.6标准的典型元件,基于测试结构和测试指令两个方面,简要阐述了高级数字网络的边界扫描测试原理;并对典型元件进行了特性参数分析与测试结构仿真;仿真结果表明:1149.6结构芯片可以实现对交流耦合差分通道中测试信号的边沿检测;最后通过实际的电路测试实验,给出了电路测试设计方法,为熟知边界扫描技术的设计者提供了有价值的参考.