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本文论述了叶片测量仪的结构及工作原理。介绍了叶片测量仪硬件和软件系统及住实际工作中的应用,并探讨了叶片测量仪的发展趋势和应用前景。 相似文献
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FPGA设计中的亚稳态及其缓解措施 总被引:1,自引:0,他引:1
亚稳态是异步数字电路设计中的固有现象。针对FPGA产品研制中的亚稳态问题,分析了其产生的原因,阐述了亚稳态对系统可靠性的影响和评估方法,并针对单比特异步传输、多比特异步传输和复位三种情况下的亚稳态提出缓解措施。该措施可以在工程实践中参考使用。 相似文献
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介绍了以采用模数转换芯片A/D574A、过零触发器、MCS51单片机为主的控制系统对电磁振动给料机振幅的数据检测及处理方法.通过对其接口电路软件和硬件的分析,展示了该电路的实用性. 相似文献
6.
多值计数器的设计与二值计数器的设计不相同,因为一般多值触发器本身并不具有多值计数功能,所以多值计数器的设计首先要解决如何实现一位多值计数器的计数问题;另外要解决如何实现多位计数器的低位向高位的进位问题.此外,还介绍了几种具有代表性的四值计数器的设计,其方法可适用于任意值计数器的设计. 相似文献
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This paper presents a technique to enhance the testability of sequential circuits by repositioning flip-flops. A novel retiming for testability technique is proposed that reduces cycle lengths in the dependency graph, converts sequential redundancies into combinational redundancies, and yields retimed circuits that usually require fewer scan flip-flops to break all cycles (except self-loops) as compared to the original circuit. Our technique is based on a new minimum cost flow formulation that simultaneously considers the interactions among all strongly connected components (SCCs) of the circuit graph to minimize the number of flip-flops in the SCCs. A circuit graph has a vertex for every gate, primary input and primary output. If gatea has a fanout to gateb, then the circuit graph has an arc from vertexa to vertexb. Experimental results on several large sequential circuits demonstrate the effectiveness of the proposed retiming for testability technique in reducing the number of partial scan flip-flops. 相似文献
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