GLOBAL: A Design for Random Testability Algorithm

1MotivationsIncreasingdensityofVLSIchipsmakesthecostoftestingveryexpensive.Designfortestabilitycantemperthisproblemdrastically.Therearetwokindsofsolutions:(i)localsolutionl3'2]withlowcomputingcomplexity,whichcannotalwaysgetsatisfactoryresults;(ii)globa.lsolutionwithprohibitivecomputingcomplekityl1'5].T.H.Chen'andM.A.Breuer[1lpresentedanILPmodeltoplacetestpointsglobally.Becauseofitscomputingcomplealty,[1lcanonlydealwithsmallormediumscalecircuits.SCOAPisusedin[1],whichisnotaveryaccuratet…     

Exact probabilistic testability measures for multi-output circuits

The computation of probabilistic testability measures has become increasingly important and some methods have been proposed, although the exact solution of the problem is NP-hard. An exact analytical method for singleoutput combinational circuits is extended to deal with multi-output circuits. Such circuits are reduced to singleoutput ones by introducing a dummy gate, the X-gate, and applying to the resulting graph the analysis based on supergates.     

基于斜率特征的模拟电路故障诊断新方法

针对低可测性模拟电路存在的模糊组问题,提出一种模拟电路故障诊断新方法。利用不同元件在电路可及节点间的斜率特征关系建立斜率测试矩阵,依据斜率测试矩阵准确找到电路中存在的模糊组和独立可测元件,从而确定可诊断集,然后利用支持向量机对故障进行诊断。斜率法优点在于不需要对电路拓扑结构进行分析,计算简便,支持向量机结构简单,泛化能力强。实验表明该方法具有良好的模拟电路故障诊断效果。     

基于信息论的软件测试性分析方法的改进研究

随着软件产业的不断发展,软件不断向系统化、集成化发展,软件所实现的功能越来越强大,复杂程度越来越高,最终导致软件质量越来越难以保证。软件测试性分析能够提供软件测试性信息,通过这些信息设计人员能在设计和测试执行之前确定测试的难易程度和所需资源,从而决定是否需要修改设计以得到一个更易测试的软件。以信息论软件测试性分析方法为基础,将程序转化为信息转换图进而利用信息论的方法进行测试性分析,最后引入模糊综合评价的方法对分析结果进行评价,并通过实例对该方法的有效性进行验证。     

多故障的电子设备系统诊断设计方法研究

针对复杂电子设备在使用过程中多故障诊断难的问题,以相关性模型为基础,提出了一种多故障诊断的设计方法;首先,根据相关性模型确定测试D矩阵,并获得组成单元与测试次数的关系矩阵;其次,根据每次实际测试的结果构建测试结果矩阵,并计算获得测试故障单元矩阵;最后,通过综合测试故障单元矩阵与测试次数关系矩阵的数据,确定故障单元的概率,根据故障概率定位出故障单元;通过实例验算表明:多故障诊断方法可准确定位故障单元,大幅降低误修率。     

机载显控设备测试性设计

机载显控设备作为人机交互终端,具有数据处理及与人交互的工作特点,采用传统BIT(机内测试)测试性设计方法,故障检测率指标难以满足用户要求;根据其设备组成和主要功能,结合FMECA(失效模式影响及危害度分析)分析结果,提出BIT检测与人工检测相结合的方式开展测试性设计,通过TADS软件建立设备测试性模型并进行了计算和分析,设备故障检测率由74.72%有效提高到93.26%,以较小代价实现了用户要求;为其他人机交互机载设备测试性设计提供参考,具有较好的工程实用价值。     

工业软件现场测试中的拆分及其测试数据设计

在工业软件的用户生产现场测试中,可能由于操作风险、用户生产限制等约束而导致测试不充分,针对实践中的难点提出新的现场测试过程及其测试数据生成方法。定义了测试拆分子集及相关属性概念,根据现场因素设计的测试拆分子集提高了现场测试可主动性;综合现场因素设计拆分方案,采用针对性的辅助管理程序引导每个测试拆分子集的现场测试的实施;通过对生产现场的历史数据的处理建立针对各测试拆分子集的测试准备数据库,以搜索测试准备数据库的结果为依据并结合现场因素设计现场主动测试的输入数据,并说明了实践中的综合实施过程。通过石化生产优化控制系统的现场测试的实际案例,说明了这种方法能够在预防风险的前提下显著提高现场测试的充分性和测试效率。     

固有测试性的Luenberger状态观测器设计法研究

针对固有测试性定量设计的困难,本文提出了Luenberger状态观测器法,叙述了线性系统固有测试性设计流程,简介了非线性系统固有测试性设计的思路。该方法可用Matlab软件编程实现,易于广泛推广。     

基于因果图的软件测试性影响因素分析

为了系统地确定软件测试性影响因素,提出一种基于因果图的分析方法.方法首先确定软件类型,分析软件特点;接着确定测试性的具体表现形式,通过对具体形式的原因分析构造因果图,分析因果图中的最小因素;最后整理出影响因素.方法能全面、系统地得到测试性影响因素,对嵌入式软件的成功分析表明了方法的可行性.     

标准测试存取口与边界扫描结构在印制板级与系统级实现的探讨

本文探讨中国电子行业标准“标准可测性总线”第一部分“标准测试存取口与边界扫描结构”在印制板级与系统级的实现问题。阐述了不要针床夹具借助边界扫描测试印制板上器件间互连的方法,综述了美国相应标准ＩＥＥＥ Ｓｔｄ １１４９．１公布前后提出和试行在印制板级和实验级实现的若干方法和方案,包括采用符合与不符合该标准的两种器件的混合型板和系统。初步探讨了实践中国电子行业标准“标准测试存取口与边界扫描结构”和开发