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1.
变价金属离子对医用胶乳制品老化性能的影响   总被引:1,自引:2,他引:1  
通过测定浓缩NR胶乳中变价金属铜、铁、锰和钴的质量分数研究金属组分对医用胶管热氧老化性能的影响。胶乳中加入铜离子的胶管物理性能无明显变化;铜离子质量分数为0.116×1O~(-4)时,胶管的耐热氧老化性能稍有提高,铜离子质量分数超过0.116×1O~(-4)时,耐热氧老化性能有所下降,但二者无对应关系。不同金属组分(质量分数均为0.348×1O~(-4))对胶管老化性能的影响大小顺序依次为钴、锰、铜和铁。  相似文献   
2.
单层花釉的研制   总被引:1,自引:0,他引:1  
刘福强 《山东陶瓷》2002,25(3):33-34
本文论述了利用TiO2的分相作用和变价的特性,通过大量的试验得到了几种较好的TiO2系窑变花釉。  相似文献   
3.
充分利用岛津电子探针在硬件上的优势,采用全元素测试,即包括超轻元素氧在内的所有元素直接测试的思路对磁铁矿进行了测试,根据电价平衡原则计算出变价元素的含量,并使用状态分析的方法验证了FeO和Fe2O3含量的Lβ/Lα特点,得到了较为理想的测试结果。  相似文献   
4.
黄铁矿是地质介质中普遍且稳定存在的矿物,由于S22-的还原性强于Fe2+,可望作为强还原剂将高价核素还原为低价态,但黄铁矿的有氧氧化会产生酸,这对放射性核素的迁移阻滞不利。本工作使用PHREEQC软件,以中国甘肃北山五一井地下水为实例,模拟了黄铁矿还原U、Se、Tc等的反应路径。结果表明,在无氧的地下处置库氛围中,黄铁矿的存在能有效地还原高价态的U、Se、Tc,将其浓度降低至极低水平而阻滞其迁移,且反应后的溶液pH值有升高趋势。  相似文献   
5.
本文描述了某电站地下水和泉华的稀土元素的地球化学特征。在本研究区内,中稀土Sm/Tb的比值反映了水岩相互过程中酸碱作用以及氧化还原作用的强弱,比值越大,中稀土的分馏作用越强,反之,越小。变价元素Eu为不同地下水系的划分起到了指示性的作用。  相似文献   
6.
在分析目前熔渣体系物相分析时物理检测的局限和化学物相分析必要性的基础上,总结化学物相分析的一般流程为:在单一元素总量分析、各价态定性和半定量分析后,确定该元素单一价态浸出分离方法或几个价态协同浸出方法,再用价态选择分析方法或差减计算方法得到元素不同价态的定量分析结果. 利用此流程对比综述了目前冶金渣中不同价态铁、铬、钒、钛、铌元素化学定量分析的原理与技术进展,并分析了相关分析方法的适用条件和不足之处. 提出物相转换溶出和适宜的电化学极谱分析方法可能是渣中过渡金属元素分析的趋势,但需具体体系具体分析.  相似文献   
7.
李昂  王文斌  曹占义 《有色矿冶》2009,25(6):41-42,44
根据Miedema二元合金生成焓模型,结合相关热力学数据,对Mg-Eu,Mg-Yb的四个变价二元合金体系中镁元素的活度进行计算。结果表明,对这四个合金体系,低价稀土金属元素将使镁的活度变化曲线对理想溶液曲线产生正偏差,而低价稀土元素体系将出现负偏差。控制不同价态稀土元素的添加量将可在一定范围内控制合金熔体中镁的活度。  相似文献   
8.
薛群虎  张颖 《耐火材料》2002,36(3):169-170
对影响刚玉、电熔锆刚玉 (FCAZS)中变价态氧化物存在价态的因素之一的熔炼气氛 ,以及变价态氧化物存在价态的测定方法进行了研究。研究结果证实 ,致密电熔刚玉和还原法生产的FCAZS制品中 ,变价态氧化物确实是以低价态存在的 ,而电子自旋共振法 (ESR)是定性或半定量分析变价态氧化物杂质存在价态的有效手段。  相似文献   
9.
在不同烧结温度下, 利用传统的固相反应工艺制备了一系列NaCu3Ti3Sb0.5Ta0.5O12陶瓷, 系统测试了它们的晶体结构、微观结构、介电性质和复阻抗谱。结果显示, 所有的NaCu3Ti3Sb0.5Ta0.5O12陶瓷的主相都呈现类钙钛矿结构, 介电性质随烧结温度变化很大。高于1020℃烧结的陶瓷的室温相对介电常数大于3000, 具有高介电性质。复阻抗谱显示, NaCu3Ti3Sb0.5Ta0.5O12陶瓷的电学分布不均匀, 由绝缘性的晶界和半导性的晶界组成。通过XRD和XPS测试发现, 在陶瓷中观察到了CuO第二相和Cu、Ti、Sb、Ta离子的变价。因此, 利用内阻挡层电容效应可以解释NaCu3Ti3Sb0.5Ta0.5O12陶瓷的高介电性质。  相似文献   
10.
为了探索CaCu3Ti4O12(CCTO)高介电性的起因机制,利用固相反应工艺制备了CCTO陶瓷样品,对其电学性质进行了研究.在40 Hz~100 MHz测量范围内,其室温下的介电频谱在1 MHz附近呈现一个类Debye型弛豫,而高温介电频谱分别在1 kHz以下和1 MHz附近呈现两个类Debye型弛豫.抛除表面层的同一个样品分别溅射金电极和烧渗银电极后升温测量其介电频谱,发现低频介电弛豫对电极的金属类型高度敏感,而高频介电弛豫与电极的金属类型无关,与材料微观结构存在着密切的关系.因此推断:CCTO低频介电弛豫起源于样品与电极之间的耗尽层效应,而高频介电弛豫起源于高阻态的晶界与半导化的晶粒形成内部阻挡层电容效应.  相似文献   
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