冷却速率对包晶钢凝固过程中包晶转变收缩的影响

通过高温激光共聚焦显微镜模拟观察了Fe-0.1C-0.21Si-1.2Mn (质量分数,%)包晶钢在不同冷却速率下的包晶相变过程,然后利用试样表面粗糙度变化反映了包晶转变收缩程度的不同。结果显示,冷却速率超过临界值后包晶转变能够发生快速相变,快速相变引起突然的包晶转变收缩和表面粗糙度变化。随冷却速率的增加包晶钢的包晶转变收缩呈先增加后减小的趋势,在冷却速率为20℃/s时表面粗糙度达到最大值,此时的表面粗糙度约是低冷却速率(2.5℃/s)时表面粗糙度的2.8倍。当冷却速率足够大后包晶转变收缩又开始减小,这一变化为高拉速下减少包晶钢连铸坯表面纵裂纹的发生提供了新策略。     

激光熔覆专用铁基合金粉末的研究进展

指出了目前防止熔覆层开裂所采取的主要措施中存在的问题,阐述了激光熔覆和热喷涂对于所用合金粉末性能要求之异同,评述了激光熔覆专用铁基合金粉末的研制现状,提出了成分与组织设计的新思想。     

TiC及Ti2C在铝结晶过程中的核心作用

将工业纯铝（９９．７％）用亚包晶成分的Ｔｉ（＜０．１５％）实行变质处理，采用电子衍射等方法研究其结晶核心，证明α－Ａｌ核心除ＴｉＣ粒子外，还存在Ｔｉ_２Ｃ。ＴｉＣ为立方晶格，ａ＝０．４３８０ｎｍ；Ｔｉ_２Ｃ为正交晶格，ａ＝１．２０ｎｍ，ｂ＝１．０６ｎｍ，ｃ＝１．５０ｎｍ     

定向凝固法制备YBC超导体的若干材料学问题

讨论了定向凝固法制备YBCO超导体涉及的包晶转变与包晶反应，成分过冷，扩散控制生长模型，界面效应及定向凝固YBCO生长晶体学等问题。     

15CrMoG钢棒材表面缺陷机理分析和工艺改进

分析得出,棒材表面细小纵裂纹和表面裂口缺陷产生于铸坯加热之前,且与结晶器弯月面保护渣有关。利用Thermo-Calc热力学软件计算15CrMoG钢凝固相变过程,结合亚包晶钢连铸凝固特点综合分析15CrMoG钢棒材表面缺陷的产生原因和产生机理。结果表明:15CrMoG钢在固相线温度附近发生包晶反应L+δ→γ和包晶转变δ→γ,不仅导致初生坯壳生长不均匀,而且加剧P、S元素在凝固前沿的偏析。而初生坯壳不均匀是导致棒材表面缺陷根本原因。棒材表面细小纵裂纹产生于结晶器内坯壳薄弱处,经过二冷和轧制工序在夹杂物和硫偏聚处扩展长大。棒材表面裂口缺陷是初生坯壳不均匀导致结晶器内液面波动大,造成铸坯夹渣所致。通过控制[C]0.16%～0.17%、[S]≤0.005%、保护渣碱度1.2、熔点≥1200℃、粘度≥1.0Pa·s,260 mm×30mm铸坯水量150 m³/h,拉速0.5 m/min等措施,裂纹合格探伤合格率由原45%提高至98%。     

CSP薄板坯连铸包晶反应区域的研究

研究了冷却速率和硅、锰合金元素含量对Fe-C合金的包晶反应和包晶点位置的影响;由于CSP薄板坯冷却速率快,Fe-C相图向左下方移动,包晶反应区域的碳含量为0.08%～0.20%;在钢中其它成分不变的条件下,硅含量增加,锰含量减少,包晶点处的碳含量会提高.     

定向凝固TiAl-Nb合金的显微组织控制与力学性能(英文)

合金的片层组织。由于合金定向凝固过程中发生完全包晶转变,在枝晶固液生长界面条件下,即可获得片层方向与生长方向成0°或45°夹角的多孪晶合成晶体(PST)。在适当的生长条件下,当片层方向与生长方向平行的片层团在二次定向凝固过程中发生籽晶作用时,可以控制PST晶体内部的片层方向仅与生长方向平行。合金中低含量B的加入会导致非包晶α相的生长,从而不利于控制片层方向。定向凝固TiAl-Nb合金中存在较大的氧化钇颗粒与条状硼化物颗粒,导致其室温拉伸延伸率仅接近2%。     

基于CA方法的Ti-45Al合金定向凝固过程微观组织模拟

采用CA方法建立了Ti-45Al(at.%)合金定向凝固过程中的组织演变数值计算模型,考虑了二元合金包晶反应过程,对液态金属冷却定向凝固过程中Ti-45Al合金的组织演变进行了模拟。模拟结果表明,定向凝固组织分为初生等轴晶组织、稳定生长的柱状晶以及中间过渡区域3部分,柱状晶一次臂间距随抽拉速度增大而减小。Ti-45Al合金在0.1 mm/min抽拉速度条件下,得到了以初生β相为主的凝固组织,在枝晶间溶质富集处有少量的包晶相析出,与相关试验结果基本一致。     

二元包晶合金研究进展

综合评述了二元包晶合金凝固领域的有关理论和实验研究的进展情况.指出,目前研究的内容主要集中在固态方面,而对与凝固过程密切相关的液态二元包晶合金的结构和性质则涉及很少.因而从液态二元包晶合金的结构和性质入手,寻求液态和固态之间的相互关系,是一个值得研究的新课题.     

Microstructure and texture analysis of YBCO thick film with peritectic growth on unoriented silver substrate

YBCO textured thick film was prepared by direct periteetic growth method. Microstructure of the film was characterized. Electron backscattered diffraction (EBSD) technique was applied to the film for quantitative texture analysis. The main difficulty in resolving the ori-entation of YBCO pseudo-cubic structure was investigated. Automated orientation mapping was performed on YBCO thick film. Local tex-ture was presented in the form of orientation maps. Misorientation distribution and crystal growth characterization in the YBCO thick film were revealed. Large domains with well-aligned YBCO grains were formed. Each domain presented clear in-plane and out-plane textures.