全文获取类型
收费全文 | 4333篇 |
免费 | 322篇 |
国内免费 | 325篇 |
专业分类
电工技术 | 31篇 |
技术理论 | 1篇 |
综合类 | 235篇 |
化学工业 | 946篇 |
金属工艺 | 376篇 |
机械仪表 | 110篇 |
建筑科学 | 52篇 |
矿业工程 | 322篇 |
能源动力 | 38篇 |
轻工业 | 144篇 |
水利工程 | 9篇 |
石油天然气 | 70篇 |
武器工业 | 17篇 |
无线电 | 893篇 |
一般工业技术 | 643篇 |
冶金工业 | 887篇 |
原子能技术 | 174篇 |
自动化技术 | 32篇 |
出版年
2024年 | 35篇 |
2023年 | 102篇 |
2022年 | 143篇 |
2021年 | 134篇 |
2020年 | 113篇 |
2019年 | 114篇 |
2018年 | 50篇 |
2017年 | 88篇 |
2016年 | 84篇 |
2015年 | 119篇 |
2014年 | 251篇 |
2013年 | 168篇 |
2012年 | 210篇 |
2011年 | 203篇 |
2010年 | 231篇 |
2009年 | 252篇 |
2008年 | 260篇 |
2007年 | 238篇 |
2006年 | 184篇 |
2005年 | 190篇 |
2004年 | 168篇 |
2003年 | 159篇 |
2002年 | 167篇 |
2001年 | 177篇 |
2000年 | 142篇 |
1999年 | 130篇 |
1998年 | 121篇 |
1997年 | 95篇 |
1996年 | 117篇 |
1995年 | 79篇 |
1994年 | 107篇 |
1993年 | 83篇 |
1992年 | 51篇 |
1991年 | 61篇 |
1990年 | 46篇 |
1989年 | 39篇 |
1988年 | 16篇 |
1987年 | 15篇 |
1986年 | 6篇 |
1985年 | 12篇 |
1984年 | 9篇 |
1983年 | 5篇 |
1982年 | 5篇 |
1981年 | 1篇 |
排序方式: 共有4980条查询结果,搜索用时 16 毫秒
1.
2.
3.
以半导体器件二维数值模拟程序Medici为工具,模拟和对比了SiGe pMOS同Si pMOS的漏结击穿电压随栅极偏压、栅氧化层厚度和衬底浓度的变化关系;研究了SiGe pMOS垂直层结构参数硅帽层厚度、SiGe层厚度及Ge剂量和p+ δ掺杂对于击穿特性的影响.发现SiGe pMOS击穿主要由窄带隙的应变SiGe层决定,击穿电压明显低于Si pMOS并随Ge组分增加而降低;SiGe/Si异质结对电场分布产生显著影响,同Si pMOS相比电场和碰撞电离具有多峰值分布的特点;Si帽层及SiGe层参数对击穿特性有明显影响,增加p型δ掺杂后SiGe pMOS呈现穿通击穿机制. 相似文献
4.
5.
对隔焰炉底铅进行分步真空蒸馏的小型试验结果:第一次蒸馏获得冷凝合金含86.72%Zn的粗锌,将残留合金进行二次蒸馏获得冷凝合金含75.94%Pb的粗铅,Ge、In、Ag富集于最终残留合金中,千克级规模一步蒸馏。在1000℃下恒温180min,真空度66.7~39.9Pa,将Zn、Pb蒸出。残留合金中Ge、In、Ag的含量分别为9.96%、6.67%、8.97%,富集比分别为7.21倍、6.67倍、 相似文献
6.
锗γ能谱测量中的符合相加修正 总被引:4,自引:1,他引:3
本文介绍了锗γ能谱测量中符合相加修正的原理和方法,给出了修正公式。分别计算了不同几何条件下两个锗探测器对一些放射性核素的符合相加修正因子,估计了符合相加修正因子对活度测量结果的误差贡献。 相似文献
7.
吴兰 《红外与毫米波学报》2002,21(2):87-90
用垂直入射的中红外光束调制非掺杂SiGe/Si量子阱中光致子带间吸收,氩离子激光器作为子带间跃迁的光泵浦源在阱中产生载流子,红外调制光谱用步进式傅立叶变换光谱仪记录,实验中观察到明显的层间干涉效应与子带间跃迁有关的色散效应,理论和实验分析认为样品折射率变化造成的位相调制可以补偿吸收所造成的幅度调制。 相似文献
8.
高纯硼烷中杂质的低温气相色谱分析 总被引:2,自引:2,他引:0
用低温色谱法解决硼烷的分解问题,使硼烷中氢的分析成为可能,该法又能消除硼烷和四硼烷(B4H10)对氧、氮和甲烷峰测定的干扰,此方法的建立使硼烷的标准制定成为可能。 相似文献
9.
浅谈高纯氮气中微量CO、CH4、C02的测定 总被引:1,自引:0,他引:1
气相色谱法是快速、准确、灵敏的分析高纯氮气中微量CO、CH4、C02最有效方法。此方法采用化学转化法使CO、CO2和H2在镍催化剂作用下转化为CH4,然后经过高灵敏度FID检测器检测,外标峰高(或面积)进行定量。其最低检测浓度为1PPM。 相似文献