单漂移聚束器的非标准聚束模式

单漂移聚束器标准聚束模式要求粒子注入能量和聚束器漂移管的几何尺寸之间必须满足严格的条件,严重地限制了可聚束粒子的种类。文章论述了采用非标准聚束模式的方法,计算不同粒子在HI-13串列加速器上实现脉冲聚束的可行性。     

高能粒子在碳纳米管绳里的沟道效应

纳米管绳是近年来产生的超晶格结构的大单晶体。高能粒子在碳纳米管绳里的沟道效应，显示大的沟道直径和微弱的退沟道因子。在粒子束物理领域中，碳纳米管绳沟道的最诱人应用是与在高梯度加速场里粒子加速的可能性相联系和与建造TeV对撞机的可能性相联系。文章介绍了这些应用研究的进展。     

CYCIAE-100引出束流色散效应的研究

CYCIAE-100是一台紧凑式回旋加速器，加速负氢粒子束，引出方式为双向剥离引出。在回旋加速器内部的加速平衡轨道上，由于磁场的对称性，束流是消色差的。加速的H^-束流经过剥离膜剥离转换成质子后，将沿着引出轨道而被引出。由于磁场的非对称性和边缘场的存在，将会给引出的质子束流引入色散，造成水平的横向发射度增长。     

高能中性粒子束注入时离子流的反常慢化机制

本文指出,在中性粒子束注入期间,当注入的能量非常高时,有可能出现反常慢化机制取代经典的Fokker-Planck散射的情况。 我们导出了经典慢化时间和反常慢化时间由上可看出,慢化时冲τ_s与离子束速度U_(ib)之间的关系在这两种机制中是完全不同的。同时也计算了平行和垂直于磁场B_0的动能E和E的变化率。 当注入的方向近似垂直于B_0时,计算结果表明dE/dt>0以及dE/dt<0,其原因是由于具有K∥B_0的电磁不稳定性所致。     

带电粒子束聚焦装置中的图像信号采集与显示

本文介绍了带电粒子束聚焦装置中样品图像的采集与显示系统，着重介绍了国产ＭＣＰ的特点及其在信号接收中的应用经验，介绍了信号的放大与耦合，信号可同时送模拟显示器（ＣＲＴ）和计算机显示，一次扫描便可获得很清晰的图像。     

径向电场中带电粒子束的质量分离

带电粒子束已广泛应用于科学、工程和国民经济的诸多领域,而质量色散及分离是电磁质量分离器和谱仪等领域中的关键科学问题。本文推导离子束流在径向电场中的运动轨迹解析表达式,应用MATLAB模拟特征质量离子的聚焦轨迹。从轨迹图中可看出,不同质量离子在径向电场中按质量聚焦,具有明显的分离效果。本文的研究结果为等离子体光学质量分离装置的研制奠定了理论基础,同时对于特殊位形电磁场控制带电粒子束等相关领域的研究具有一定的借鉴意义。     

联用动态EMMI与FIB的集成电路失效分析

EMMI被广泛应用于集成电路的失效分析和机理判定。针对端口I-V特性曲线的异常现象,采用静态电流的发光效应对漏电点进行光发射定位。静态电流法无法全面测试集成电路内部逻辑单元,需要使用动态信号驱动集成电路,使内部失效部位能够产生光发射。对样品在动态失效工作状态进行光发射捕捉,再结合良品对比、电路原理图和版图分析等辅助手段进行故障假设,以定位失效点,最后利用FIB系统对电路进行剖面切割制样,找出物理损伤点。对砷化镓数字集成电路的不稳定软失效案例进行分析,动态EMMI法与FIB系统联用可成功应用于芯片内部金属化互连异常的失效分析,解决传统静态光发射法无法定位的技术难题。