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1.
在分析传统单片机教学存在问题的基础上,提出面向工程应用,聚焦企业需要,构建能力递进、面向应用的内容体系,搭建资源共享、实践创新、师生互动的自主学习平台,组建培养兴趣,突出技能的“双师型”教学团队,实践表明,在传授知识的同时,能有效提升学习兴趣,优化人才素质结构。  相似文献   
2.
针对谱聚类融合模糊C-means(FCM)聚类的蛋白质相互作用(PPI)网络功能模块挖掘方法准确率不高、执行效率较低和易受假阳性影响的问题,提出一种基于模糊谱聚类的不确定PPI网络功能模块挖掘(FSC-FM)方法。首先,构建一个不确定PPI网络模型,使用边聚集系数给每一条蛋白质交互作用赋予一个存在概率测度,克服假阳性对实验结果的影响;第二,利用基于边聚集系数流行距离(FEC)策略改进谱聚类中的相似度计算,解决谱聚类算法对尺度参数敏感的问题,进而利用谱聚类算法对不确定PPI网络数据进行预处理,降低数据的维数,提高聚类的准确率;第三,设计基于密度的概率中心选取策略(DPCS)解决模糊C-means算法对初始聚类中心和聚类数目敏感的问题,并对预处理后的PPI数据进行FCM聚类,提高聚类的执行效率以及灵敏度;最后,采用改进的边期望稠密度(EED)对挖掘出的蛋白质功能模块进行过滤。在酵母菌DIP数据集上运行各个算法可知,FSC-FM与基于不确定图模型的检测蛋白质复合物(DCU)算法相比,F-measure值提高了27.92%,执行效率提高了27.92%;与在动态蛋白质相互作用网络中识别复合物的方法(CDUN)、演化算法(EA)、医学基因或蛋白质预测算法(MGPPA)相比也有更高的F-measure值和执行效率。实验结果表明,在不确定PPI网络中,FSC-FM适合用于功能模块的挖掘。  相似文献   
3.
Saw-tooth chip changes from macroscopically continuous ribbon to separated segments with the increase of cutting speed. The aim of this study is to find the correlations between chip morphology and machined surface micro-topography at different chip serration stages encountered in high speed cutting. High strength alloy steel AerMet100 was employed in orthogonal cutting experiments to obtain chips at different serration stages and corresponding machined surfaces. The chips and machined surfaces obtained were then examined with optical microscope (OM), scanning electron microscope (SEM), and white light interferometer (WLI). The result shows that chip serration causes micro-waves on machined surface, which increases machined surface roughness. However, wave amplitudes (surface roughness) at different serration stages are different. The principal factor influencing wave amplitude is the thickness of the sawed segment (tooth) of saw-tooth chip. With cutting parameters in this study, surface roughness contributed by chip serration ranges from 0.39 μm to 1.85 μm. This may bring on serious problems in the case of trying to replace grinding with high-speed cutting in rough machining. Some suggestions have been proposed to control the chip serration-caused surface roughness in high-speed cutting based on the results of the current study.  相似文献   
4.
The present study focuses on the sintering of silicon carbide-based ceramics (SiC) by liquid phase sintering (LPS) followed by characterization of the produced ceramics. AlN/Re2O3 mixtures were used as additives in the LPS process. In the first step, the LPS-SiC materials were produced in a graphite resistance furnace in the form of discs at different temperatures. The conditions with the best results regarding real density and relative density were taken as reference for sintering in the form of prismatic bars. In the second step, these samples were evaluated regarding fracture toughness (KIC), by the Single Edge V Notch Beam – SEVNB – method, and flexural strength. KIC behavior was evaluated according to the depth and curvature radius of the notches. Reliable KIC values were presented when the ceramic displayed a small curvature radius at the notch tip. When the radius was large, it did not maintain the square root singularity of the notch tip. Tests were carried out to determine KIC values in atmospheric air and water. KIC results were lower in water than air, with a decrease ranging between 2.56% and 11.26%. The observations indicated a direct grain size correlation between KIC values and fracture strength of the SiC ceramics.  相似文献   
5.
2.5GHz低相位噪声CMOS LC VCO的设计   总被引:5,自引:2,他引:3  
张海清  章倩苓 《半导体学报》2003,24(11):1154-1158
用0 .35μm、一层多晶、四层金属、3.3V的标准全数字CMOS工艺设计了一个全集成的2 .5 GHz L C VCO,电路采用全差分互补负跨导结构以降低电路功耗和减少器件1/ f噪声的影响.为了减少高频噪声的影响,采用了在片L C滤波技术.可变电容采用增强型MOS可变电容,取得了2 3%的频率调节范围.采用单个16边形的对称片上螺旋电感,并在电感下加接地屏蔽层,从而减少芯片面积,优化Q值.取得了在离中心频率1MHz处- 118d Bc/ Hz的相位噪声性能.电源电压为3.3V时的功耗为4 m A.  相似文献   
6.
串行16位DAC转换芯片在流量手操器中的应用   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文介绍串行16位D/A转换芯片MAX541及其与AT89C52单片机的接口电路、相应的转换子程序,并给出其在过程流量手操器中的应用。  相似文献   
7.
新型的芯片间互连用CMOS/BiCMOS驱动器   总被引:5,自引:2,他引:3  
从改善不同类型 IC芯片之间的电平匹配和驱动能力出发 ,设计了几例芯片间接口 (互连 )用 CMOS/Bi CMOS驱动电路 ,并提出了采用 0 .5 μm Bi CMOS工艺 ,制备所设计驱动器的技术要点和元器件参数。实验结果表明所设计驱动器既具有双极型电路快速、大电流驱动能力的特点 ,又具备 CMOS电路低压、低功耗的长处 ,因而它们特别适用于低电源电压、低功耗高速数字通信电路和信息处理系统。  相似文献   
8.
半导体芯片的检测是芯片生产企业生产过程中的重要环节,芯片在检测过程中,由于圆形硅片的结构特点而造成的漏测又是困扰芯片生产企业不可小视的实际问题。本文介绍了利用双探边器解决由于硅圆片结构所造成的漏测的有效办法及具体操作方法。  相似文献   
9.
吴辉 《现代显示》2006,(5):46-48
介绍液晶显示器EDM12864B的原理及其在单片机控制下的简单应用。  相似文献   
10.
论文简单分析了FIPSPUB140-2标准及其在密码模块开发过程中的指导意义,可作为密码模块技术开发人员在进行安全性设计时的参考。  相似文献   
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