超细粉在内循环流化床中的流态化特性

在内径120 mm的半圆柱形内循环流化床中,以平均粒径387 nm的Ti O2为原料,考察了单独通入流化气、射流气和同时通入流化气和射流气三种流化方式下超细粉的流化特性以及射流气速对超细粉聚团尺寸的影响。结果表明:同时通入流化气和射流气时,流化气能促进粉体循环,消除环隙死区;高速射流能有效破碎聚团,显著减小聚团尺寸,从而使超细粉在环隙区与导流管之间形成稳定循环,小聚团在环隙区实现平稳流态化。随着射流气速的增大,聚团尺寸减小,粒度分布变窄,在射流气速分别为60,90,120,150 m/s的条件下,聚团平均直径分别为194,158,147,135μm。     

增效过磷酸钙的增效机制及其对玉米生长的影响

利用猪毛、风化煤和腐植酸钠的水解液为增效剂制备了一种增效过磷酸钙,探讨了增效过磷酸钙的增效机制及其对玉米生长的影响。结果表明,蒸馏水浸提条件下,增效过磷酸钙能减缓水溶磷的释放,具备较高的pH值缓冲性。与普通过磷酸钙相比,增效过磷酸钙处理的玉米生物量平均增加了41.9%,吸磷量和吸钙量分别增加了61.7%和27.8%,根系活力增加了24.3%。该研究结果对过磷酸钙生产的技术改进具有指导意义。     

Extending SSD Lifespan with Comprehensive Non-Volatile Memory-Based Write Buffers

Journal of Computer Science and Technology - New non-volatile memory (NVM) technologies are expected to replace main memory DRAM (dynamic random access memory) in the near future. NAND flash...     

一款紧凑增强型可变阻抗电磁带隙结构

基于传统AI-EBG结构,提出了一种小尺寸的增强型电磁带隙结构,实现了从0.5~9.4 GHz的宽频带-40 dB噪声抑制深度,且下截止频率减少到数百MHz,可有效抑制多层PCB板间地弹噪声。文中同时研究了EBG结构在高速电路应用时的信号完整性问题,使用差分信号方案可改善信号完整性。     

宽带DDS跳频源设计

直接数字合成（DDS）简单可靠、控制方便，具有很高的频率分辨率，高速转换，非常适合快速跳频的要求。在对DDS基本原理进行了简要介绍和分析后，提出宽带跳频源设计方案。     

基于光纤环的光缓存器

提出了一种基于光纤环的光缓存器的结构,对结合半导体光放大器作光开关的此结构的物理模型进行了详细描述,并根据此模型分析了其增益、噪声、信噪比等方面的特性.     

一种高性能的新结构IGBT

提出了一种低功率损耗的新结构IGBT.该新结构的创新点在于其复合耐压层结构,该耐压层包括深扩散形成的n型缓冲层和硼注入形成的透明背发射区两部分.虽然在正常工作条件下,该新结构IGBT工作于穿通状态,但器件仍具有非穿通IGBT(NPT-IGBT)的优良特性.该新结构IGBT具有比NPT-IGBT更薄的芯片厚度,从而可以获得更好的通态压降和关断功耗之间的折衷.实验结果表明:与NPT-IGBT相比较,新结构IGBT的功率损耗降低了40%.     

基于支持向量机的缓存预估模型的设计与实现

采用支持向量机(SVM)对网络业务流数据进行预测估计，通过训练样本，从而获得样本以外数据的分布规律。在此基础上，设计了一种网络排队队列缓存的预估模型。实验表明，该模型具有较高的训练效率和很高的估计精确度。     

Signal Integrity: Fault Modeling and Testing in High-Speed SoCs

As we approach 100 nm technology the interconnect issues are becoming one of the main concerns in the testing of gigahertz system-on-chips. Voltage distortion (noise) and delay violations (skew) contribute to the signal integrity loss and ultimately functional error, performance degradation and reliability problems. In this paper, we first define a model for integrity faults on the high-speed interconnects. Then, we present a BIST-based test methodology that includes two special cells to detect and measure noise and skew occurring on the interconnects of the gigahertz system-on-chips. Using an inexpensive test architecture the integrity information accumulated by these special cells can be scanned out for final test and reliability analysis.     

高速光通信系统中的色散问题及其补偿研究

当光纤通信系统单信道速度升级到40Gbit/s及以上时，色度色散（CD）和偏振模色散（PMD）已经成为严重影响系统性能的主要因素。本文主要从补偿的必要性、关键技术、主要方法和解决方案等方面分别对CD和PMD及其补偿进行了较详细的研究。