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双CCD光栅投影法测量物体三维轮廓技术
引用本文:田爱玲,刘洋,郭迎福,刘丙才,王红军. 双CCD光栅投影法测量物体三维轮廓技术[J]. 西安工业大学学报, 2009, 29(2)
作者姓名:田爱玲  刘洋  郭迎福  刘丙才  王红军
作者单位:田爱玲,刘洋,刘丙才,王红军,TIAN Ai-ling,LIU Yang,LIU Bing-cai,WANG Hong-jun(西安工业大学,光电工程学院,西安,710032);郭迎福,GUO Ying-fu(湖南科技大学,机电工程学院,湖南,411201)  
基金项目:湖南科技大学湖南省机械设备健康维护重点实验室开放基金 
摘    要:为了实现物体三维轮廓的高精度测量,使用双CCD采集被物体调制的光栅图像,将四步相移法与图象编码法相结合对采集到的图像进行处理,得到物体上各个点的相位变化,根据相位变化求出物点相对于参考面的高度,从而获得物体的三维轮廓信息.实验表明,此方法测量信息获取完整,可以测量陡峭或不连续的物体,测量误差在0.05 mm以内.

关 键 词:光栅投影  三维轮廓测量  图象编码  四步相移

Technology of Double CCD 3D Profile Measurement Using Grating Project
TIAN Ai-ling,LIU Yang,GUO Ying-fu,LIU Bing-cai,WANG Hong-jun. Technology of Double CCD 3D Profile Measurement Using Grating Project[J]. Journal of Xi'an Institute of Technology, 2009, 29(2)
Authors:TIAN Ai-ling  LIU Yang  GUO Ying-fu  LIU Bing-cai  WANG Hong-jun
Abstract:
Keywords:
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