GTPP—一种全局测试点插入算法

本文提出了一个全局测试点插入算法。该算法在可测性设计以前首先分析了电路的可测性，得到测试点候选集，该集合中每一个点都是对该电路的可测性可能有很大改进的测试点。文中首先采用选择跟踪的思想得到全局测试点插入的初始界限，然后将测试点插入算法形式化为一个要枝界限的问题，得到了一种全局的测试插入结果，文中的算法是基于ＳＣＴＭ测试提出来的。