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| DDR1＆2＆3信号完整性测试分析技术探析 | |
| 引用本文： | 孙灯亮.DDR1＆2＆3信号完整性测试分析技术探析[J].国外电子测量技术,2006,25(9):75-79. |
| 作者姓名： | 孙灯亮 |
| 作者单位： | 安捷伦科技 |
| 摘 要： | 1 DDR1＆2＆3总线概览
DDR全名为Double Data Rate SDRAM，简称为DDR。DDR技术已经发展到了DDR3，理论上速度可以支持到1600MT／s。DDR总线走线数量多、速度快、操作复杂、探测困难，给测试和分析带来了巨大的挑战。 |
| 关 键 词： | DDR技术 测试分析 信号完整性 SDRAM 总线 速度 |
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