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| 高精度微小锥体测量装置 | |
| 作者姓名： | 染本鑫 |
| 作者单位： | 西安东风仪表厂 |
| 摘 要： | 图1所示锥体锥度的测量,由于其外形尺寸很小,斜角公差反映到可测长度l=4mm上半径差仅为±0.39μm,用常用仪器已无能为力。笔者组装一种简易测量装置,获得满意效果。 一、装置结构与测量原理 该装置由一台BCT—5型微动测量台与一台JD3型立式光学计组成,如图2,采用接触式自比较测量原理。 本装置利用微动台的斜块工作台的斜角与被测锥体锥角相同,从而反向互补的原理。测量时,光学计测头与锥体母线接触,锥体随斜块工作台一起轴向运动,光学计于锥体大端接触相对于小端接触时的示值差值即反映锥度线值误差,这就是“自比较”的含义。 为确保量值… |
| 关 键 词： | 锥体 测量装置 精度 |
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