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硅压阻输出微传感器的1/f噪声
引用本文:于晓梅,江兴流,J Thaysen,O Hansen,A Boisen. 硅压阻输出微传感器的1/f噪声[J]. 半导体学报, 2001, 22(9): 1182-1187
作者姓名:于晓梅  江兴流  J Thaysen  O Hansen  A Boisen
作者单位:[1]北京航空航天大学物理系,北京100083 [2]丹麦技术大学微电子中心
基金项目:国家留学基金委留学基金;;
摘    要:从理论和实验上系统地讨论了压阻输出微传感器的噪声 .选用了单晶硅、非晶硅、多晶硅和微晶硅四种材料作为压阻材料 ,设计了 16种不同尺寸的力敏 Wheastone电桥 ,并对器件分别进行了两种不同浓度的掺杂和两种不同条件的退火 ,共获得 2 5 6种压阻输出的微传感器 .测量所有器件的噪声 ,并对噪声谱进行理论分析 ,实验结果表明单晶硅具有最低的 1/ f 噪声和 Hooge因子 (α)的值 ,而非晶硅略好于微晶硅和多晶硅 .几何尺寸大的力敏电阻具有低的 1/ f 噪声 ,但 α值不受器件尺寸的影响 .掺杂浓度增加 10倍时 ,不同器件的 1/ f 噪声降低介于35 %— 5 0 %之间 .

关 键 词:悬臂梁   1/f噪声   压敏   Hooge因子
文章编号:0253-4177(2001)09-1182-06
修稿时间:2000-11-01

1/f Noise in Silicon-Based Piezoresistive Microsensor
YU Xiao-mei,JIANG Xing-liu,J Thaysen,O Hansen and A Boisen. 1/f Noise in Silicon-Based Piezoresistive Microsensor[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2001, 22(9): 1182-1187
Authors:YU Xiao-mei  JIANG Xing-liu  J Thaysen  O Hansen  A Boisen
Affiliation:YU Xiao-mei1,JIANG Xing-liu1,J Thaysen2,O Hansen2 and A Boisen2
Abstract:
Keywords:cantilever  1/f noise  piezoresistive  Hooge factor  
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