| 发光二极管芯片快速检测方法的研究 |
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| 引用本文： | 任红茹,李薇,刘雪莲,王文杰,梁琨,杨茹,韩德俊. 发光二极管芯片快速检测方法的研究[J]. 半导体光电, 2009, 30(1) |
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| 作者姓名： | 任红茹 李薇 刘雪莲 王文杰 梁琨 杨茹 韩德俊 |
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| 作者单位： | 北京师范大学射线束技术与材料改性教育部重点实验室,北京市辐射中心,北京100875 |
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| 摘 要： | 介绍了一种新的发光三极管(LED)芯片的检测方法及应用.该方法利用自行研制的掩埋双pn结(BDJ)光波长探测器同时测量LED芯片的有效波长及辐射强度,具有简单、快捷、动态范围宽、探测器体积小和便于系统集成的优点,在半导体照明最感兴趣的398～780 nm波长范围内,波长测量的重复精度及分辨率优于1 nm.据此方法,对红、绿、蓝、紫四种LED芯片发光的波长及辐射强度进行了实际测量,对红绿蓝三基色发光二极管合成白光的偏色进行了检测,并与光纤光谱仪测量得到的结果进行了比较.
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| 关 键 词： | 半导体光电子学 BDJ半导体探测器 LED芯片检测 光色测量 |
Fast Test Method of LED Chips |
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