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基于Markov随机场模型的纹理图像的缺陷检测
引用本文:舒坚,胡茂林.基于Markov随机场模型的纹理图像的缺陷检测[J].计算机技术与发展,2006,16(5):65-67.
作者姓名:舒坚  胡茂林
作者单位:1. 安徽大学,计算机教学部,安徽,合肥,230039
2. 安徽大学,智能计算与信息处理实验室,安徽,合肥,230039
摘    要:在工业自动化研究中,部件的缺陷检测是非常重要的过程。文中提出了一种基于图像纹理分析的表面缺陷检测方法,图像表面纹理特征是利用Markov随机场模型来描述的,通过学习和聚类分析来检测出纹理图像中有缺陷的区域。试验结果表明,该方法可以有效地描述不同种物质表面的纹理特征,并能准确地检测和定位缺陷。

关 键 词:纹理分析  Markov  随机场模型  缺陷检测

Detection of Defect Based on Texture of Markov Random Field Model
SHU Jian,HU Mao-lin.Detection of Defect Based on Texture of Markov Random Field Model[J].Computer Technology and Development,2006,16(5):65-67.
Authors:SHU Jian  HU Mao-lin
Abstract:
Keywords:
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