OTDR和光源功率计测试光纤接头损耗 |
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引用本文: | 胡爱莲,刘栋,张立岩,曹蓓蓓.OTDR和光源功率计测试光纤接头损耗[J].中国新通信,2021(3):34-36. |
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作者姓名: | 胡爱莲 刘栋 张立岩 曹蓓蓓 |
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作者单位: | 1.长飞光纤光缆股份有限公司;;2.中国移动通信集团有限公司;;3.长飞光纤光缆股份有限公司光纤光缆制备技术国家重点实验室; |
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基金项目: | 国家科技重大专项“大型先进压水堆及高温气冷堆核电站科技重大专项”课题(课题编号:20192X06002018)。 |
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摘 要: | 在实际光缆施工熔接中,通常采用OTDR测试光纤接头损耗,但OTDR单向损耗包含了被接续两根光纤的背向散射特性差异,并不代表光纤真实的熔接损耗,因此采用单向损耗作为熔接损耗的判断标准,通常会造成误解和不必要的返工。而光源功率计的测试原理相对简单,只需从一个方向进行测试。本文基于某移动干线在开盘检测过程中采用OTDR测试出现的熔接损耗"大正大负"现象,特设计实验,分别采用OTDR和光源光功率计测试了熔接点损耗和光缆链路损耗,验证OTDR双向平均值的结果和光源光功率计测试结果趋于一致,从而证明OTDR测试熔接损耗和链路损耗的正确方法是双向测试取平均值,单向熔接损耗不影响实际光纤的传输性能。
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关 键 词: | OTDR 光源功率计 熔接损耗 单向损耗 大正大负 |
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