首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

三维集成电路中硅通孔复合故障的检测与诊断
作者姓名:尚玉玲  谭伟鹏  李春泉
作者单位:桂林电子科技大学电子工程与自动化学院,广西桂林 541004;桂林电子科技大学机电工程学院,广西桂林 541004
基金项目:国家自然科学基金;广西自然科学基金
摘    要:

关 键 词:硅通孔(TSV)  TSV复合故障  集成电路  粒子群优化(PSO)  最小二乘支持向量机(LSSVM)  环形振荡器
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号