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n+多晶硅/n+SiC异质结欧姆接触
引用本文:张林,张义门,张玉明,汤晓燕. n+多晶硅/n+SiC异质结欧姆接触[J]. 半导体学报, 2006, 27(13): 378-380
作者姓名:张林  张义门  张玉明  汤晓燕
作者单位:西安电子科技大学微电子研究所,教育部宽禁带半导体材料重点实验室,西安 710071;西安电子科技大学微电子研究所,教育部宽禁带半导体材料重点实验室,西安 710071;西安电子科技大学微电子研究所,教育部宽禁带半导体材料重点实验室,西安 710071;西安电子科技大学微电子研究所,教育部宽禁带半导体材料重点实验室,西安 710071
摘    要:采用器件仿真软件ISE TCAD模拟了n+多晶硅/n+SiC异质结形成欧姆接触的新的SiC欧姆接触制造技术. 模拟结果表明n+多晶硅/n+SiC异质结接触可以形成良好的欧姆接触,具有工艺简单、性能优良的优点.

关 键 词:SiC;欧姆接触;多晶硅;异质结

Ohmic Contact on SiC Using n+ Polysilicon/n+ SiC Heterojunction
Zhang Lin,Zhang Yimen,Zhang Yuming and Tang Xiaoyan. Ohmic Contact on SiC Using n+ Polysilicon/n+ SiC Heterojunction[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2006, 27(13): 378-380
Authors:Zhang Lin  Zhang Yimen  Zhang Yuming  Tang Xiaoyan
Abstract:A novel SiC ohmic contact of n+ polysilicon/n+ SiC heterojunction is simulated with the numerical simulator ISE TCAD.The simulated results show that the n+ polysilicon/n+ SiC heterojunction can form excellent ohmic contact and has the advantages of simple process and excellent performance.
Keywords:SiC   ohmic contact   poly-silicon   heterojunction
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