首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

基于过驱动技术的TTL器件特性研究
引用本文:宋光明,宋建社. 基于过驱动技术的TTL器件特性研究[J]. 控制工程, 2007, 0(Z2)
作者姓名:宋光明  宋建社
作者单位:第二炮兵工程学院导弹工程研究所 陕西西安710025
摘    要:利用半导体器件允许瞬态过载的特性对数字器件进行在线故障隔离和诊断是一种实用性强的故障诊断方法。通过实验对TTL器件的过驱动特性进行了研究,得出了TTL器件的过驱动特性曲线,并从微观粒子运动的角度对曲线的本质进行了解释。该实验结果为设计基于反向驱动的数字电路故障诊断系统提供了有力的依据。

关 键 词:过驱动  故障隔离  TTL器件

Over-drive Characteristic of TTL Component
SONG Guang-ming,SONG Jian-she. Over-drive Characteristic of TTL Component[J]. Control Engineering of China, 2007, 0(Z2)
Authors:SONG Guang-ming  SONG Jian-she
Abstract:It is a practical method to use the characteristic of twinkle-over-loading of semiconductor component to isolate and diagnosis digital components in-circuits.The characteristic of twinkle-over-loading of TTL component is studied by experiment,it's curve of over-drive is obtained and the reason is explained in the movement of micro-electronics.A strong backup of design digital circuit fault diagnosis system based on over-drive is given.
Keywords:over-drive  fault isolation  TTL component
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号