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| 核靶厚度和均匀性测量 | |
| 引用本文： | 许国基,孟祥金.核靶厚度和均匀性测量[J].中国核科技报告,1987(Z1). |
| 作者姓名： | 许国基 孟祥金 |
| 作者单位： | 中国原子能科学研究院 北京 (许国基)，中国原子能科学研究院 北京(孟祥金) |
| 摘 要： | 本文系统地介绍了核靶厚度和均匀性的测量方法,包括天平称重法、石英晶体测厚法,等效空气α粒子能量损失法,吸光光度法和离子背散射法。这些方法都有各自的特点:石英微量天平的灵敏度高(0.04μg/cm~2);等效空气α粒子测厚仪的测量范围宽;吸光光度法测量快速而背散射法既能测量核靶厚度又能分析靶膜的杂质。将这几种方法结合起来,就能测量不同元素和不同种类核靶的厚度和均匀性。 |
| 关 键 词： | 靶 均匀性 背散射 分光光度计 |
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