| 摘 要： | 粗制氢氧化钴的主要化学成分为钴、铜、铁、锰、钙、镁、铝，其含量是判定粗制氢氧化钴品级的决定性指标。采用能量色散X射线荧光光谱法(ED-XRF)替代化学湿法测定粗制氢氧化钴中钴、铜、铁、锰、钙、镁、铝的含量，可缩短分析周期，实现各元素的同时、快速测定。实验采用粉末压片法制样，将样品研磨至74μm,以硼酸为粘结剂垫底镶边，在15 t的压力下保压10 s,压制成光滑平整的样片。搜集16个各元素含量具有一定梯度，能覆盖粗制氢氧化钴中各元素含量范围，且由行业标准YS/T 1157—2016定值的粗制氢氧化钴生产样品作为校准样品系列制作校准曲线，并采用经验系数法进行基体校正，建立了能量色散X射线荧光光谱测定粗制氢氧化钴中钴、铜、铁、锰、钙、镁、铝的方法。各元素校准曲线的线性相关系数均大于0.998,方法检出限为0.001 4%～0.093%。按照实验方法对同一氢氧化钴样品进行精密度测试，各元素测定结果的相对标准偏差(RSD,n=11)为0.11%～3.9%,另选取4个非校准系列中的粗制氢氧化钴生产样品，分别按照实验方法和行业标准YS/T 1157—2016进行测定，两种方法的差值均满足行业标准YS...
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