沉积在硅油表面上Au薄膜的电学性能及成膜机理

采用硅油作基底，沉积出具有网状特征结构的逾渗Au薄膜，用四引线方法原位测量Au薄膜的电学性能，测得其电阻随沉积时间以及凝聚时间的变化规律，较好地解释了此类薄膜的生长机制。对Au薄膜R-I特性的测量结果表明：生长在液体基底表面Au薄膜的局域隧道电流和跳跃电导效应比一般薄膜更为强烈，其功率谱指数w趋于零，该值远小于普通逾渗薄膜系统的相应值。