退火温度对TiO2薄膜结构和表面形貌的影响 |
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作者姓名: | 侯亚奇 庄大明 等 |
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作者单位: | 清华大学机械工程系,北京100084 |
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摘 要: | 研究了退火温度对中频交流反应磁控溅射技术制备的TiO2薄膜结构和表面形貌的影响。利用X射线衍射 仪和原子力显微镜,检测了TiO2薄膜的晶体结构和表面形貌。实验结果显示:沉积态TiO2薄膜为非晶态;低温(700℃以下)退火后,TiO2薄膜出现锐钛矿相,晶粒长大不明显;高温退火(900℃以上)后,薄膜转变为金红石相,晶粒由柱状转变为棱状,并迅速长大至微米量级。
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关 键 词: | 退火温度 结构 表面形貌 TiO2薄膜 中频交流磁控溅射 锐钛矿 金红石 二氧化钛 TEM X射线衍射 |
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