超大规模集成测试系统INTEGRA J750

该产品将具有ATE时序功能的多通道结合入单—ASIC器件。芯片的数字与模拟部分隔离,阻止通道间的相互影响,使得VLSI测试系统的64个通道能够完全在一块印刷电路板上集成,在一个测试头中具备一整套VLSI测试系统,取消主机及内部连接电缆。