| 薄规格取向硅钢二次再结晶过程中Goss织构演变的Monte Carlo模拟 |
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| 引用本文： | 马光,陈新,卢理成,信冬群,孟利,王浩,程灵,杨富尧.薄规格取向硅钢二次再结晶过程中Goss织构演变的Monte Carlo模拟[J].材料导报,2018,32(2):313-315, 332. |
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| 作者姓名： | 马光 陈新 卢理成 信冬群 孟利 王浩 程灵 杨富尧 |
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| 作者单位： | 全球能源互联网研究院电工新材料研究所,北京102211,全球能源互联网研究院电工新材料研究所,北京102211,国家电网公司,北京100031,北京科技大学材料科学与工程学院,北京100083,钢铁研究总院,北京100081,北京科技大学材料科学与工程学院,北京100083,全球能源互联网研究院电工新材料研究所,北京102211,全球能源互联网研究院电工新材料研究所,北京102211 |
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| 基金项目： | 基金项目:国家电网公司科技项目(SGRI-WD-71-14-002);国家自然科学基金(51571020；51371030); 国家重点研发计划(2016YFB0700501) |
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| 摘 要： | 通过EBSD实验获取了薄规格取向硅钢(0.18mm厚)初次再结晶样品表面晶粒组织的取向数据,并以此构建模拟的初始组织。采用Potts模型Monte Carlo方法对薄规格取向硅钢初次再结晶样品的二次再结晶过程进行了模拟仿真,研究了表面能对Goss织构演变的影响。模拟结果表明:Goss取向晶粒与相邻晶粒的表面能差是Goss取向晶粒异常长大的重要驱动力;表面能差存在一个临界值(约12%),只有当表面能差大于此临界值时才会发生表面能驱动Goss取向晶粒的异常长大。
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| 关 键 词： | 薄规格 取向硅钢 Monte Carlo模拟 Goss织构 |
Monte Carlo Simulation of the Evolution of Goss Texture in Secondary Recrystallization of Thin Gauge Grain Oriented Silicon Steel |
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| MA Guang,CHEN Xin,LU Licheng,XIN Dongqun,MENG Li,WANG Hao,CHENG Ling and YANG Fuyao.Monte Carlo Simulation of the Evolution of Goss Texture in Secondary Recrystallization of Thin Gauge Grain Oriented Silicon Steel[J].Materials Review,2018,32(2):313-315, 332. |
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| Authors: | MA Guang CHEN Xin LU Licheng XIN Dongqun MENG Li WANG Hao CHENG Ling and YANG Fuyao |
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| Affiliation: | Department of Electrical Engineering New Materials, Global Energy Interconnection Research Institute, Beijing 102211,Department of Electrical Engineering New Materials, Global Energy Interconnection Research Institute, Beijing 102211,State Grid Corporation of China, Beijing 100031,School of Materials Science and Engineering, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083,Central Iron and Steel Research Institute, Beijing 100081,School of Materials Science and Engineering, University of Science and Technology Beijing, Beijing 100083,Department of Electrical Engineering New Materials, Global Energy Interconnection Research Institute, Beijing 102211 and Department of Electrical Engineering New Materials, Global Energy Interconnection Research Institute, Beijing 102211 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | thin gauge grain oriented silicon steel Monte Carlo simulation Goss texture |
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