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杂志ISSN号
碲化镉肖特基势垒的温度依赖关系
作者姓名:
张世表
史尚畬
作者单位:
南开大学物理系 天津,北京2137信箱
摘 要:
本文通过对Au/n-CdTe肖特基二极管I-V-T测量得出:在室温附近,势垒高度随温度升高而线性增加,增加速率约为 9 ×10~(-4)eV/K.这一结果与 Hattori 等对InP的研究结果一致,
关 键 词:
肖特基势垒
势垒高度
界面态
界面层
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