首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

工序能力指数CPK评价在混合集成电路生产线中的实践与应用
引用本文:邓洁.工序能力指数CPK评价在混合集成电路生产线中的实践与应用[J].混合微电子技术,2005,16(3):51-58.
作者姓名:邓洁
作者单位:中国电子科技集团公司第43研究所,合肥230022
摘    要:介绍工序能力指数基本概念,表述在混合集成电路生产线中实施CPK评价的实践和流程,指出存在的问题,以及从工序能力分析的角度理解6σ设计目标。

关 键 词:工序能力指数  计算方法  工艺参数采集  结果分析  集成电路生产  CPK  线中  混合  评价  应用
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号