CMOS集成电路测试中的几个问题

作者根据多年来对CMOS集成电路测试过程中发现的一些技术问题,提出了解决办法。本文较详细介绍了CMOS器件的功耗概念,ΔI_(CC)参数的重要性及测试方法。对于近几年已引起集成电路厂商和军界重视的使用I_(CCQ)测试法发现工艺制造过程中可能存在的缺陷,作一简要介绍。文章还叙述了芯片测试过程中存在的波形反射及解决办法,对于因连线引起的参数误差,提出了修正措施。