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基于应用背景的电子元器件结构分析研究
引用本文:仇沈,张哲瑞,杨佳宁.基于应用背景的电子元器件结构分析研究[J].中国设备工程,2024(6):251-253.
作者姓名:仇沈  张哲瑞  杨佳宁
作者单位:1. 中国直升机设计研究所;2. 中国航空综合技术研究所
摘    要:结构分析技术是一种新颖且行之有效的电子元器件可靠性评估方法。通过对电子元器件的设计、结构、工艺和材料的剖解分析,来确定元器件本身是否存在潜在的失效风险的因素、可靠性问题、工艺缺陷和信息安全隐患等。结构分析不仅直接锁定元器件“不好用”的原因,还指导元器件生产研制单位进行技术改进。本文针对结构分析的可靠性机理、验证流程和验证方案展开论述并给出结论。

关 键 词:结构分析  元器件  可靠性评价  单元分解  要素识别
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