基于应用背景的电子元器件结构分析研究 |
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引用本文: | 仇沈,张哲瑞,杨佳宁.基于应用背景的电子元器件结构分析研究[J].中国设备工程,2024(6):251-253. |
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作者姓名: | 仇沈 张哲瑞 杨佳宁 |
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作者单位: | 1. 中国直升机设计研究所;2. 中国航空综合技术研究所 |
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摘 要: | 结构分析技术是一种新颖且行之有效的电子元器件可靠性评估方法。通过对电子元器件的设计、结构、工艺和材料的剖解分析,来确定元器件本身是否存在潜在的失效风险的因素、可靠性问题、工艺缺陷和信息安全隐患等。结构分析不仅直接锁定元器件“不好用”的原因,还指导元器件生产研制单位进行技术改进。本文针对结构分析的可靠性机理、验证流程和验证方案展开论述并给出结论。
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关 键 词: | 结构分析 元器件 可靠性评价 单元分解 要素识别 |
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