| 光电经纬仪CCD曝光中心测量系统的设计 |
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| 引用本文： | 李满良,吴钦章.光电经纬仪CCD曝光中心测量系统的设计[J].光学精密工程,2013,21(5). |
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| 作者姓名： | 李满良 吴钦章 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院光电技术研究所,四川成都610209;中国科学院大学,北京100039;中国人民解放军63610部队,新疆库尔勒841001
2. 中国科学院光电技术研究所,四川成都,610209 |
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| 基金项目： | 国家863高技术研究发展计划资助项目 |
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| 摘 要： | 根据高精度靶场测角要求,设计了一套以IRIG-B码终端为时间基准,基于数字信号处理器(DSP)和现场可编程门阵列(FPGA)的CCD曝光中心测量系统.首先给出了CCD曝光中心的测量原理及硬件组成,利用共源的两台IRIG-B码终端控制发光二极管和CCD探测器,通过调整B码终端输出信号时延控制发光二极管,得到了1 Hz脉冲前后沿和曝光脉冲前后沿对齐的2个关键时刻.针对人工图像判读精度低的问题,提出了利用图像重心的提取算法和改进的Krisch边缘算法,自动计算得到CCD曝光中心,其精度优于17 μs.在外场对多套光电经纬仪CCD曝光中心进行了测量,并将测量结果应用到外场校飞数据处理中,结果表明,在飞机过航捷时光电经纬仪的测角误差平均减少了55％.该系统稳定、可靠,在靶场测量中有着广泛的应用前景.
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| 关 键 词： | 光电经纬仪 CCD曝光中心 IRIG-B码终端 数字信号处理 现场可编程门阵列 边缘提取 |
CCD exposure center measuring system for photoelectric theodolite |
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| LI Man-liang
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WU Qin-zhang.CCD exposure center measuring system for photoelectric theodolite[J].Optics and Precision Engineering,2013,21(5). |
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| Authors: | LI Man-liang WU Qin-zhang |
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