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扫描电镜自动样品台控制系统
引用本文:刘其武.扫描电镜自动样品台控制系统[J].电子显微学报,2000,19(1):76-80.
作者姓名:刘其武
作者单位:中国科学院北京科学仪器研制中心电镜部,北京,100080
摘    要:本文主要从自动样品台控制系统的功能分析、设计朱理以及运作过程的角度阐述其开发设计的基本思想与所采用方案,并通过对其性能、结构特点等的介绍表明系统具有相对独立性和扩展性,可对不同的电镜样品台进行改造,具有广泛的应用前景。

关 键 词:扫描电子显微镜  样品台控制系统  功能分析

Specimen stage control system for SEM
LIU Qi-wu.Specimen stage control system for SEM[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2000,19(1):76-80.
Authors:LIU Qi-wu
Abstract:This article described the ideas and method of the specimen stage control system(SSCS) designing,and introduced the structure and the property of the SSCS.Obviously,the SSCS is independent and open,and it can be widely used to upgrade or reform SEM.
Keywords:SEM  SSCS  
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