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| 大型集成电路ATE系统面临挑战 | |
| 作者姓名： | 钟新 |
| 作者单位： | |
| 摘 要： | ATE测试系统进展缓慢集成电路曾使用小规模、中规模、大规模和超大规模来形容其集成度,现在发展到芯片系统,起码集成百万以上的晶体管,堪称超级超大规模集成电路了。芯片系统不但只有逻辑电路,还有存储器和模拟电路。总之,它是一个名副其实可独立运行的小系统,例如数字相 |
| 关 键 词： | 集成电路 ATE系统 测试系统 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
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