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| 氦质谱细检漏国军标的修改方案 | |
| 引用本文： | 王庚林,王彩义,王莉研,董立军,李飞.氦质谱细检漏国军标的修改方案[J].电子产品可靠性与环境试验,2009,27(Z1). |
| 作者姓名： | 王庚林 王彩义 王莉研 董立军 李飞 |
| 作者单位： | 北京市科通电子继电器总厂,北京市宣武区白纸坊东街31号,100054 |
| 摘 要： | 以前期研究成果为基础,计算分析了国际电工委员会标准和我国国家标准中密封严酷度分级的氦质谱细检漏测量漏率判据,提出了进行密封严密度分级的国军标修改方案及相关因素的处置方法. |
| 关 键 词： | 氦质谱 细检漏 国军标 修改方案 |
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