| 原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(Ⅵ)的方法研究 |
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| 引用本文： | 闫军,高峰,张锐,金雨琴. 原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(Ⅵ)的方法研究[J]. 信息技术与标准化, 2007, 0(3): 20-24 |
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| 作者姓名： | 闫军 高峰 张锐 金雨琴 |
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| 作者单位： | 北京出入境检验检疫局 |
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| 摘 要： | 应用原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬（Ⅵ）的含量，可适应RoHS中各种复杂样品的检测以及改善样品消解等诸多实际问题。其相对标准偏差（RSD）：2．03％；检出限：0．0646mg／L；线性范围宽，校准曲线的线性相关系数应大于0．999等。有效地将铬（Ⅵ）、铬（Ⅲ）分离，并有效地消除基体干扰等，完全能够适应电子电气产品中铬（Ⅵ）的测定。
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| 关 键 词： | 原子荧光光谱法 电子电气产品 铬(Ⅵ) 方法研究 |
| 收稿时间： | 2007-01-18 |
| 修稿时间： | 2007-01-18 |
The Research of the Determination of Hexavalent Chromlum[Cr(Ⅵ)] by the Atom Fluorescence Spectrum Method |
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