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| 基于TTCN-3的TD-LTE非接入层测试研究 | |
| 引用本文： | 牛丽丽,李校林,李小文.基于TTCN-3的TD-LTE非接入层测试研究[J].广东通信技术,2012,32(4):43-46. |
| 作者姓名： | 牛丽丽 李校林 李小文 |
| 作者单位： | 1. 重庆市移动通信技术重点实验室 2. 重庆市移动通信技术重点实验生 |
| 基金项目： | 国家科技重大专项基金资助项目（2009ZX03002-009） |
| 摘 要： | 主要在介绍TD-LTE非接入层协议和TTCN-3标准的基础上，对TD-LTE终端测试中E—UTRAN／SAE的系统架构和非接入层的测试模型进行分析，并使用TTCN-3对非接入层进行一致性测试，并以EMM实体为例进行了验证。证明了该方法能够有效实现EMM实体协议的一致性测试。 |
| 关 键 词： | TTCN-3 TD-LTE 非接入层 终端 一致性测试 |
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