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| Ag—TCNQ薄膜电双稳态特性的XPS研究 | |
| 作者姓名： | 张群 孔令柱 张强基 王伟军 华中一 |
| 作者单位： | 复旦大学材料科学系上海200433 |
| 摘 要： | 本采用X光电子谱仪(XPS)研究了Ag-TCNQ薄膜的电双稳态特性。对TCNQ粉末、热处理前后的TCNQ薄膜及Ag-TCNQ薄膜作了分析。结果发现，真空蒸镀及大气环境中热处理不会引起TCNQ化学状态的变化，而热处理会促使Ag与TCNQ发生反应，薄膜电双稳态特性的优劣则与反应程度有关。最后讨论了这一现象的可能机理。 |
| 关 键 词： | XPS Ag－TCNQ 电双稳态特性 化学态 |
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