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单片机用于磁参数测量的研究
引用本文:刘大革. 单片机用于磁参数测量的研究[J]. 武汉化工学院学报, 1995, 17(2): 45-48
作者姓名:刘大革
摘    要:研究单片机用于磁参数测量的测试方法、整体结构和误差消除,从而实现磁参数测试过程自动化。

关 键 词:磁性参数 单片机 测量 磁性材料

A Study on the Measurement of Ferride Parameters by Single Chip Computer
Liu Dager. A Study on the Measurement of Ferride Parameters by Single Chip Computer[J]. Journal of Wuhan Institute of Chemical Technology, 1995, 17(2): 45-48
Authors:Liu Dager
Abstract:he study on measuring method, whole structure and eliminating errors of the measurement of ferride parameters by single chip computer resulted in automation of the measuring process.
Keywords:agnetic parameter  Single chip computer  Measurement
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