| SCR器件在CMOS静电保护电路中的应用 |
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| 引用本文： | 金鹏,张生才,李树荣,赵毅强,姚素英.SCR器件在CMOS静电保护电路中的应用[J].微电子学,2004,34(1):67-70. |
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| 作者姓名： | 金鹏 张生才 李树荣 赵毅强 姚素英 |
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| 作者单位： | 天津大学,电子与信息工程学院,天津,300072 |
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| 摘 要： | 静电放电(ESD)对CMOS电路的可靠性构成了很大威胁。随着CMOS电路集成度的不断提高，其对ESD保护的要求也更加严格。针对近年来SCR器件更加广泛地被采用到CMOS静电保护电路中的情况，文章总结了SCR保护电路发展过程中各种电路的工作机理。旨在为集成电路设计人员提供ESD保护方面的设计思路以及努力方向。
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| 关 键 词： | SCR器件 CMOS静电保护电路 集成电路 可靠性 可控硅 CMOS电路 |
| 文章编号： | 1004-3365(2004)01-0067-04 |
SCR Devices in ESD Protection Circuits for CMOS IC's |
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| JIN Peng,ZHANG Sheng-cai,LI Shu-rong,ZHAO Yi-qiang,YAO Su-ying.SCR Devices in ESD Protection Circuits for CMOS IC''''s[J].Microelectronics,2004,34(1):67-70. |
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| Authors: | JIN Peng ZHANG Sheng-cai LI Shu-rong ZHAO Yi-qiang YAO Su-ying |
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| Abstract: | Electrostatic discharge is considered a serious threat to CMOS IC's.With the scaling down of CMOS technology,the demand for ESD protection has become stronger than ever before.In recent years,SCR devices are widely used in CMOS IC's for ESD protection.ESD protection circuits using SCR devices are reviewed in the paper,to provide IC designers with a reference in dealing with ESD protection design for CMOS integrated circuits. |
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| Keywords: | ESD Integrated circuit Reliability SCR |
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