| 一种嵌入式RAM的BIST设计 |
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| 引用本文： | 华德兴,陈卫兵. 一种嵌入式RAM的BIST设计[J]. 电子质量, 2007, 0(3): 21-23 |
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| 作者姓名： | 华德兴 陈卫兵 |
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| 作者单位： | 阜阳师范学院物理系,阜阳,236041;阜阳师范学院物理系,阜阳,236041 |
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| 摘 要： | 本文分析了嵌入式RAM的传统测试方法和内建自测试(BIST)方法,提出了一种新的BI ST设计方案,该设计方案具有测试生成快,节约测试成本等优点.
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| 关 键 词： | 片上系统 超大规模集成电路 RAM BIST |
| 文章编号： | 1003-0107（2007）03-0021-02 |
A BIST Design of Embedded RAM |
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| Hua De-xing,Chen Wei-bing. A BIST Design of Embedded RAM[J]. Electronics Quality, 2007, 0(3): 21-23 |
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| Authors: | Hua De-xing Chen Wei-bing |
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| Abstract: | This essay introduces the general test method and BIST test method of embedded RAM and gives a new BIST design. This design has the advantages that could get test generation in short time and low test cost. |
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| Keywords: | RAM BIST |
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